【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种适于辐射效应测试的信号延迟自动校准方法及系统，特别是涉及一种用于实现不同辐射环境下辐射效应考核中采集数据延迟自动补偿的方法及系统，可应用于航天、军事电子元器件辐射效应的考核、测试工作。
技术介绍
随着科学技术的发展，特别是空间技术和核能技术的发展，越来越多的电子设备要在各类辐射环境中应用。电子设备的基本组成一半导体器件是辐射最敏感也是最薄弱的环节，半导体器件的辐射损伤是降低航天器可靠性的重要原因，辐射效应的研究以及抗辐射加固器件的研制成为我国航天事业进一步发展必须要解决的问题。基于地面辐射环境模拟源的辐射效应试验是考核电子元器件抗辐射性能的最重 要手段。在辐射效应考核试验中，由于辐射环境的独特性，辐射效应的被测器件与测试硬件系统不能安置在同一块电路板上，二者之间往往通过一定长度的数据传输线实现连接，以此保证硬件测试系统不被辐射环境影响。被测器件与测试硬件系统之间的数据传输线是造成辐射效应数据测试不稳定或测试系统不能正常工作的重要原因。电子元器件的辐射效应地面模拟试验包括钴源稳态辐照试验、中子、质子以及重离子等多种试验环境，不同试验环境要求的传输...
【技术保护点】
一种适于辐射效应测试的信号延迟自动补偿方法，其特征在于：包括以下步骤：1】产生校验向量，利用相位与系统时钟一致的采样时钟采集被测器件的数据，执行步骤2；2】判断采集的数据是否与期望数据一致，若判断不一致，则执行步骤3，若判断一致，则执行步骤5；3】增加采样时钟的相位1度，重新采集被测芯片数据；判断数据采样时钟与期望数据是否一致，若不一致，则重复本步骤，直至一致，则标记此时相位为N0；执行步骤4；4】继续增加采样时钟相位1度，直至采集数据与期望数据不一致，标记此时相位为N1，执行步骤7；5】增加采样时钟的相位1度，重新采集被测芯片数据；判断数据采样时钟与期望数据是否一致，若一...
【技术特征摘要】
1.一种适于辐射效应测试的信号延迟自动补偿方法，其特征在于包括以下步骤 I产生校验向量，利用相位与系统时钟一致的采样时钟采集被测器件的数据，执行步骤2; 2判断采集的数据是否与期望数据一致，若判断不一致，则执行步骤3，若判断一致，则执行步骤5 ； 3增加采样时钟的相位I度，重新采集被测芯片数据；判断数据采样时钟与期望数据是否一致，若不一致，则重复本步骤，直至一致，则标记此时相位为NO ;执行步骤4 ; 4继续增加采样时钟相位I度，直至采集数据与期望数据不一致，标记此时相位为NI，执行步骤7 ； 5增加采样时钟的相位I度，重新采集被测芯片数据；判断数据采样时钟与期望数据是否一致，若一致，则重复本步骤，直至不一致，则标记此时相位为NO ;执行步骤6 ; 6将采样时钟的相位移动归O，减少采样时钟相位I度，直至采集数据与期望数据不一致，标记此时相位为NI, NKO ;执行步骤7 ； 7将采样时钟的相位移动设置在NI至NO之间，则采样时钟的相位调整完...
【专利技术属性】
技术研发人员：张科营，张凤祁，罗尹虹，郭红霞，姚志斌，王园明，郭晓强，王忠明，闫逸华，丁李丽，赵雯，王燕萍，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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