一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件制造技术

技术编号:8511994 阅读:203 留言:0更新日期:2013-03-30 09:26
本实用新型专利技术公开了一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,包括测量架底座、支承架底座,测量架底座设置有测量球、第一螺丝孔、第二螺丝孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔,其中第一螺帽孔位于第一螺丝孔的外侧,第二螺帽孔位于第二螺丝孔的外侧;支承架底座设置有第一支承球、第二支承球、第三螺丝孔、第三螺帽孔,其中第一支承球、第二支承球的位置位于第三螺丝孔及第三螺帽孔的上方。由于上述工件的支承架底座上设置的支承球位于固定点的上方,因而加大了测量球与支承球之间的垂直距离,于是进一步的扩大了合套仪轴承外圈内径的尺寸测量范围。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种工件,尤其是一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件
技术介绍
滚珠轴承在合套前,需要测量轴承内圈的外径及外圈的内径,从而根据这个数据来计算配套的滚珠的尺寸范围,并选择合适的滚珠,从而完成合套的工序。目前市场上有一类合套仪,此类合套仪的调整距离是固定的,因而测量范围也是固定的,而测量范围与工件的结构也存在较大的关系,图1是现有技术的合套仪轴承外圈内径测量原理图,如图1所示,一个测量点和两个支撑点构成了三点定位,测量点和支撑点之间可调整的垂直距离即为可测量的轴承外圈内径的尺寸范围。现有技术的工件的支承架设计通常是支承点在固定点下面,因而导致测量范围较窄。
技术实现思路
本技术针对上述问题,为了解决由于工件的结构导致合套仪测量范围变窄的问题,目的在于提供一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,能够扩大合套仪轴承外圈内径的尺寸测量范围。为达到上述目的,本技术的技术方案是一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,包括测量架底座、支承架底座,测量架底座设置有测量球、第一螺丝孔、第二螺丝孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔,其中第一螺帽孔位于第一螺丝孔的外侧,第二螺帽孔位于第二螺丝孔的外侧;支承架底座设置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于合套仪轴承外圈尺寸测量的工件,包括测量架底座(1)、支承架底座(11),其特征在于:测量架底座(1)设置有测量球(6)、第一螺丝孔(2)、第二螺丝孔(4)、第一螺帽孔(3)、第二螺帽孔(5),其中第一螺帽孔(3)位于第一螺丝孔(2)的外侧,第二螺帽孔(5)位于第二螺丝孔(4)的外侧;支承架底座(11)设置有第一支承球(7)、第二支承球(8)、第三螺丝孔(10)、第三螺帽孔(9),其中第一支承球(7)、第二支承球(8)的位置位于第三螺丝孔(10)及第三螺帽孔(9)的上方。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王慧霞吕晓春杨辉陈超赵达江
申请(专利权)人:浙江胜坚轴承机械有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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