度量设备制造技术

描述了一种度量设备，该度量设备包括通过轴承装置可旋转地连接至第二结构（22）的第一结构（20）。该轴承装置包括至少第一摩擦轴承，所述第一摩擦轴承包括在所述第一结构（20）相对于所述第二结构（22）的旋转期间滑动接触的部件（28，34，30，36）。所述设备包括减轻所述第一摩擦轴承上的载荷的至少一个磁体（52，54；60，62）。可以使用以吸引或排斥排列设置的多个磁体。该度量设备可以包括用于坐标定位设备（2）的铰接探头（12）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】度量设备
本专利技术涉及一种度量设备，该度量设备包括至少一个摩擦轴承，更具体地说，本专利技术涉及这样一种度量设备，该度量设备呈现用于坐标定位设备的铰接探头的形式，该铰接探头包括用于减轻由所述摩擦轴承承载的载荷的至少一个磁体。
技术介绍
在许多不同的度量应用中，都需要精确地控制两个结构的相对运动。例如，公知的是利用铰接探头将测量探针安装至坐标测量机器(CMM)的主轴上，所述铰接探头能够使所述测量探针相对于所述主轴围绕两个旋转轴线旋转。以前已经提出了铰接探头，该铰接探头包括用于限定具有所需精度水平的旋转轴线的各种不同类型的轴承。例如，在WO2008/001069中描述了在铰接探头中使用高精度空气轴承。尽管这种空气轴承装置能够提供必须的精度，但是需要将这种轴承的各个部件制成紧密公差，由此导致这种轴承相对较大且昂贵。以前在EP1307710中还描述了用于在铰接探头中使用的更便宜、更紧凑的摩擦轴承装置的各种示例。然而，本专利技术的专利技术人已经发现，使用这种摩擦轴承能够获得的性能可能是不可接受的，特别是在高载荷下。
技术实现思路
根据本专利技术的第一方面，提供了一种度量设备，该度量设备包括通过轴承本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.07.21 GB 1012249.7;2010.07.22 US 61/366,6641.一种度量设备，该度量设备包括通过轴承装置可旋转地连接至第二结构的第一结构，该轴承装置包括至少第一摩擦轴承，所述第一摩擦轴承包括在所述第一结构相对于所述第二结构的旋转期间物理地滑动接触的部件，其特征在于，所述设备包括减轻所述第一摩擦轴承上的载荷的至少一个磁体，并且所述设备包括至少一个机械止动件，其中所述第一摩擦轴承的滑动接触的部件被布置成在受到机械震动时分离，在这种分离期间允许的位移量受到所述至少一个机械止动件的限制。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述至少一个磁体包括减轻所述第一摩擦轴承上的载荷的以排斥排列布置的多个磁体。3.根据权利要求1所述的设备，其中所述至少一个磁体通过磁性吸引减轻所述第一摩擦轴承上的载荷。4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述至少一个磁体包括至少一个永磁体。5.根据权利要求1至3中任一项所述的设备，其中所述第一摩擦轴承包括与一个或更多个轴承表面滑动接触的球体，所述第一结构是可相对于所述第二结构围绕该球体的中心旋转的。6.根据权利要求1所述的设备，其中所述轴承装置允许所述第一结构相对于...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴维·罗伯茨·麦克默特里，史蒂文·保罗·亨特，
申请(专利权)人：瑞尼斯豪公司，
类型：
国别省市：