银膜电阻型原子氧传感器、原子氧检测仪及其应用方法技术

本发明专利技术公开了一种银膜电阻型原子氧传感器、原子氧检测仪及其应用方法。该银膜电阻型原子氧传感器包括氧化铝陶瓷基底，氧化铝陶瓷基底上布设有银膜电阻线，银膜电阻线的线条呈“之”字形布设于氧化铝陶瓷基底上，银膜电阻线的两端分别设有金属电极。该原子氧检测仪包括精密电压参考源、精密电阻、上述的原子氧传感器、仪用放大器以及单片机，其中，仪用放大器将原子氧传感器的两端的电压信号放大后传输给单片机；单片机用于根据采样电压的值实时计算原子氧传感器的电阻值。本发明专利技术通过银膜电阻线阻值的变化，即可推导计算出空间的原子氧的通量，实时性好、成本低廉且测量精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及低地球轨道空间的原子氧环境及其浓度探测领域，特别地，涉及一种银膜电阻型原子氧传感器。此外，本专利技术还涉及一种包括上述银膜电阻型原子氧传感器的原子氧检测仪及其应用方法。
技术介绍
原子氧是低地球轨道(200 1000km)上中性气体中含量最多的成分(大约占80%左右)，也是对航天器影响最为严重的环境因素。原子氧具有很强的氧化性和高速的碰撞能量，对航天器材料具有很强的剥蚀作用。空间原子氧效应的研究需要借助于性能优良、结构简单的设备来进行探测。而目前主要的测量方法如Kapton(聚酰亚胺)膜质量损失法、银表面催化法、光谱法、NO2滴定法、质谱分析法和半导体膜电阻法等。其中，基于Kapton膜质量损失法、银表面催化法、光谱法、N02滴定法缺少适应性，目前只能用于地面模拟实验。这几类方法均需要借助于石英晶体微天平、质谱仪、专用探测器和光学系统等设备来完成。这些设备不仅结构复杂、体积较大、功耗较大且成本较高，难以搭载在航天器表面进行试验，同时，使用较为复杂的检测设备，影响测量结果误差的因素较多，可能需要人为干预或参加，如Kapton膜质量损失法甚至需要依赖对返回样品的测量才能获本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种银膜电阻型原子氧传感器，其特征在于，包括氧化铝陶瓷基底，所述氧化铝陶瓷基底上布设有银膜电阻线，所述银膜电阻线的线条呈之字形布设于所述氧化铝陶瓷基底上，所述银膜电阻线的两端分别设有金属电极。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈小前，绳涛，程云，郝东，胡星志，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：