【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
折射率是材料的重要物理参数之一，也是影响光学系统性能的重要因素。折射率测量的应用领域包括光学元件的设计和加工，食品、医药、化工等行业的成分检测和产品鉴定，薄膜检测，晶体材料研制，环境监测以及珠宝鉴定等。对一些要求较高的仪器系统，精确测量折射率也有着迫切的需求。目前的折射率测量方法主要包括测角法、干涉法、菲涅耳公式法等。其中测角法是通过角度测量来计算折射率，如最小偏向角法、临界角法(全反射法)等。然而，传统的折射率测量方法虽经过不断的改进，但精度难于进一步提高，例如最小偏向角法，在高精度测量时，对样品的加工要求极高，而且需要高精度测角装置，设备庞大，成本很高。而临界角法(全反射法)测量折射率，因为需要满足临界角的条件，因此待测样品的折射率必须小于标准样品(一般为蓝宝石玻璃)的折射率，测量范围受到限制。
技术实现思路
综上所述，确有必要提供一种精度高、易于操作、且测量范围广泛的透明介质折射率的测量方法和测量装置。一种透明介质折射率的测量装置，其中，所述装置主要包括一激光器;一样品池，所述样品池位于所述激光器下方以接收入射激光；一标准样品，...
【技术保护点】
一种透明介质折射率的测量装置，其特征在于，所述装置主要包括：一激光器；一样品池，所述样品池位于所述激光器下方以接收入射激光；一标准样品，所述标准样品置于所述样品池内，所述标准样品包括一面对激光器的第一表面以及相对的第二表面，所述第一表面为一斜面并接收入射激光，所述第二表面为一平面，所述第一表面与第二表面形成一楔角α；一回馈镜，所述回馈镜位于所述样品池下方，以反射从样品池出射的激光形成激光回馈；一位移探测装置，用于探测所述样品池的横向位移；一光电探测器，所述光电探测器位于所述激光器上方以接收激光信号并转换为电信号；以及一信号处理和控制系统，所述信号处理和控制系统与所述光电探测...
【技术特征摘要】
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