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本发明提供一种利用激光回馈原理来测量透明介质折射率的装置。其特征在于：它以待测样品的位移产生的激光回馈条纹为研究对象，待测样品与标准样品具有相同楔角，在入射面垂直于激光轴线位移时，由于待测样品与标准样品在光路中的各自厚度发生变化，即激光外腔...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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