一种尺寸量具制造技术

一种尺寸量具，包括尺架、固定测头和活动测头；尺架为]或圆弧形，固定测头和活动测头固定连接在尺架两端的内侧且上端高度一致并组成一对开轭和相对面的测量间固定测头包括支杆、固定测针和固定测砧，固定测砧为球头面，固定测针固定连接在支杆上，固定测砧在固定测针的顶端；活动测头包括支座、活动测针、活动测砧、百分表或前分表；活动测砧在活动测针的顶端且为球头面；活动测针和百分表通过支座构成了杠杆结构。由于测针的形状较细且测砧的球头面较小，所以可以测量平面上高度较小的凸台的外部尺寸，定位准确；又有调零功能，也可用于测量固定尺寸的公差相对值，读数简单可靠，测量方便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种尺寸量具，特别是一种测量平面上小高度凸台的尺寸量具，属于尺寸计量领域。
技术介绍
常用的测量尺寸的量具有游标卡尺和千分尺，常用的游标卡尺可以用来测量长度、内外径、深度等，精度最高可达毫米的百分位，精度较低，精确测量时通常不采用；常用的千分尺，也叫螺旋测微器，也可用来测量长度、外径等，精度最高可达毫米的千分位，精度较高，但由于千分尺的测砧和测量螺杆截面为有一定直径长度的圆形，所以当测量平面上高度较小的凸台的长度或外径时，由于凸台高度较小，千分尺的测砧和螺杆卡住凸台的两端操作不方便且容易导致测量产生一定的误差。
技术实现思路
本专利技术提供了一种尺寸量具。解决了平面上高度较小凸台长度高精度测量的问题。本专利技术的技术方案如下一种尺寸量具，包括尺架1、固定测头2和活动测头3 ;尺架为]或圆弧形，固定测头2和活动测头3固定连接在尺架I两端的内侧且上端高度一致并组成一对开轭和相对面的测量间；固定测头2包括支杆、固定测针和固定测砧，固定测砧为球头面，固定测针固定连接在支杆上，固定测砧在固定测针的顶端；活动测头包括支座4、活动测针5、活动测砧6、百分表7 ;活动测砧6在活动测针5的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种尺寸量具，其特征在于，包括尺架、固定测头和活动测头；尺架为]或圆弧形，固定测头和活动测头固定连接在尺架两端的内侧且上端高度一致并组成一对开轭和相对面的测量间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何海龙，张伟，
申请(专利权)人：北京航天新风机械设备有限责任公司，
类型：发明
国别省市：