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一种实时测量非透明物体温度和光谱发射率的装置制造方法及图纸

技术编号:8472328 阅读:200 留言:0更新日期:2013-03-24 16:18
一种实时测量非透明物体温度和光谱发射率的装置,本实用新型专利技术的技术方案要点是,一种实时测量非透明物体温度和光谱发射率的装置,它包括壳体,探测器,放大器,A/D转换器,微处理器,在壳体端部设有聚光透镜,壳体内设有电机,电机的转动轴与调制盘连接,调制盘上对称位置设有两个过孔,其中一个过孔内安装有半反半透镜,过孔位置与聚光透镜对应,与调制盘上过孔对应的位置固定安装有滤波片,滤波片的后部安装有探测器,探测器与放大器电连接,放大器与A/D转换器电连接,A/D转换器与微处理器电连接,微处理器的输出端与显示屏电连接。本实用新型专利技术结构合理,成本较低,操作较为简便,测量效果较好,可以测量的温度范围较大。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

一种实时测量非透明物体温度和光谱发射率的装置
本技术涉及非透明物体温度和光谱发射率的测量,特别是一种实时测量 非透明物体温度和光谱发射率的装置。
技术介绍
温度是表征物体冷热程度的物理量,准确的温度测量对于工农业生产、科学研究 等都有着极其重要的作用。常用的测温方法有两类一类是接触式测温,即通过与物体接触,达到热平衡后获 得物体的真实温度。如常用的热电偶,温度计等。接触式测温准确度高,但是由于需要与被 测物体接触,响应速度慢,测温上限受到限制。另外一类测温方法是辐射测温技术,此类测 温方法主要基于黑体辐射定律,由于辐射测温计无需与被测物体接触、响应速度快、测温上 限高等优点,已被广泛应用于钢铁冶炼、热处理等工业生产中。目前常用的辐射测温计大致可以分为三种一是最常用的单波长辐射测温仪,该 类测温计通常需要手动输入发射率值来修正测量结果。由于物体的光谱发射率随着温度 是变化的,因此单波长辐射测量仪的测量精度受发射率的影响较大,严重影响了其测量精 度。二是双波长辐射测温仪,此类测温仪通过同时测量两个相近波长点的辐射能量,近似认 为两波长点的发射率相等,从而“消除”发射率的影响。该方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实时测量非透明物体温度和光谱发射率的装置,它包括壳体,探测器,放大器,A/D转换器,微处理器,其特征在于:在壳体端部设有聚光透镜,壳体内设有电机,电机的转动轴与调制盘连接,调制盘上对称位置设有两个过孔,其中一个过孔内安装有半反半透镜,过孔位置与聚光透镜对应,与调制盘上过孔对应的位置固定安装有滤波片,滤波片的后部安装有探测器,探测器与放大器电连接,放大器与A/D转换器电连接,A/D转换器与微处理器电连接,微处理器的输出端与显示屏电连接。

【技术特征摘要】
1.一种实时测量非透明物体温度和光谱发射率的装置,它包括壳体,探测器,放大器,A/D转换器,微处理器,其特征在于在壳体端部设有聚光透镜,壳体内设有电机,电机的转动轴与调制盘连接,调制盘上对称位置设有两个过孔,其中一个过孔内安装有半反半透镜,过孔位置与聚光透镜对应,与调制盘上过孔对...

【专利技术属性】
技术研发人员:于坤聂奎营刘玉芳
申请(专利权)人:于坤
类型:实用新型
国别省市:

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