质谱离子调谐方法技术

技术编号:8453993 阅读:237 留言:0更新日期:2013-03-21 22:08
本发明专利技术提供了一种质谱离子调谐方法,包括离子过滤调谐,所述离子过滤调谐包括以下步骤:(B1)向质谱仪中通入待测对象中没有的背景气体,分别获得对应于所述待测对象中各组分S1、S2、、、SN的离子信号噪声强度I01、I02、、、I0N,所述N为大于2的正整数;(B2)在所述质谱仪的分析过程中,获得待测对象中各组分S1、S2、、、SN的离子信号强度I01、I02、、、I0N,进一步获得信噪比i=1、2、、、N;(B3)若Ni≤N0,N0为设定值,则调高该信噪比对应的离子的过滤时间,并进入所述步骤(B2)。本发明专利技术具有检测精度高、稳定性好、维护周期长、维护成本低等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及质谱分析,特别涉及。
技术介绍
在线质谱根据不同物质质荷比不同进行分离及检测,完成对被测物质的定量分析。其核心部分主要包含离子源,四极杆质量过滤器,检测器和控制模块等几部分,由于在线分析的需要,因此要求仪器必须满足以下几点I、长期稳定运行,减少人工维护;2、对于被测组分定量准确,且长期稳定性要好;目前存在的问题I、仪器容易污染,污染后要求手动清洁,增加了人工维护成本;2、对于痕量组分的定量稳定性较差。
技术实现思路
为了解决上述现有技术方案中的不足,本专利技术提供了一种,实现了质谱仪具有检测精度高、稳定性好、维护周期长、维护成本低等优点。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的一种,所述调谐方法包括离子过滤调谐,所述离子过滤调谐包括以下步骤(BI)向质谱仪中通入待测对象中没有的背景气体,分别获得对应于所述待测对象中各组分Si、S2、、、Sn的离子信号噪声强度Ic^ I02>、、Ion,所述N为大于2的正整数;(B2)在所述质谱仪的分析过程中,获得待测对象中各组分SpS2、、、SN的离子信号强度 In、I12、、、Iin,进一步获得信噪比M ,i = 1、2、、、N;本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种质谱离子调谐方法,其特征在于:所述调谐方法包括离子过滤调谐,所述离子过滤调谐包括以下步骤:(B1)向质谱仪中通入待测对象中没有的背景气体,分别获得对应于所述待测对象中各组分S1、S2、、、SN的离子信号噪声强度I01、I02、、、I0N,所述N为大于2的正整数;(B2)在所述质谱仪的分析过程中,获得待测对象中各组分S1、S2、、、SN的离子信号强度I11、I12、、I1N,进一步获得信噪比i=1、2、、、N;(B3)若Ni>N0,N0为设定值,经过分析获得所述各组分的含量;若Ni≤N0,则调高该信噪比对应的离子的过滤时间,并进入所述步骤(B2)。FSA00000813127300011.t...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张进伟郑利武任焱冯红年陈生龙顾海涛
申请(专利权)人:聚光科技杭州股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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