非线性矢量网络分析仪双端口校准方法技术

技术编号:8452134 阅读:574 留言:0更新日期:2013-03-21 08:27
非线性矢量网络分析仪双端口校准方法,它涉及微波毫米波测量技术领域。它解决了现有非线性矢量网络分析仪双端口校准技术的校准方案单一、校准结果难以自检的问题。采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路、负载、功率、相位和直通校准,获得校准件的标称值和实际测量值,根据获得的所有系数确定8项误差模型,实现非线性矢量网络分析仪的校准。本发明专利技术适用于信号分析及对非线性器件的特性进行最深入的分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
目前的非线性矢量网络分析仪,简称NVNA,是新一代微波毫米波测量技术及射频功率器件非线性表征平台,然而,NVNA的校准原理和方案一直以来都没有实现突破,仍沿用着Maury公司2003年推出的大信号网络分析仪,简称LSNA的相对和绝对校准技术与流程, 没有针对NVNA自身的特点和与LSNA测量原理的差别得到深入研究和发展。现有的NVNA 双端口校准技术校准方案单一、校准结果难以自检。
技术实现思路
本专利技术是为了解决现有的NVNA双端口校准技术校准方案单一、校准结果难以自检的问题,而提出。,该方法包括以下步骤步骤一采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路和负载校准, 采用开路标准件进行开路校准,根据所述开路标准件的标称值和实际测量值获得方程组eOO . ^Open^OpeneIl - ^Open^x ~ ^Open e3i + ^Opm^OpeneIl _= ^Opm采用短路标准件进行短路校准;根据所述短路标准件的标称值和实际测量值获得权利要求1.,其特征在于,该方法包括以下步骤步骤一采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路和负载校准,采用开路标准件进行开路校准,根据所述开路标准件的标称值和实际测量值获得方程组eOO + ^ΟραΧφαΑ Oprn^x = ^Oper, e33 + ^ OpaX Opene22 — ^OpeiiA}; = ^Open采用短路标准件进行短路校准;根据所述短路标准件的标称值和实际测量值获得方程组2.非线性矢量网络分析仪双端口另一种校准的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤步骤I :采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路和负载校准,采用开路标准件进行开路校准,根据所述开路标准件的标称值和实际测量值获得方程组全文摘要,它涉及微波毫米波测量
它解决了现有非线性矢量网络分析仪双端口校准技术的校准方案单一、校准结果难以自检的问题。采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路、负载、功率、相位和直通校准,获得校准件的标称值和实际测量值,根据获得的所有系数确定8项误差模型,实现非线性矢量网络分析仪的校准。本专利技术适用于信号分析及对非线性器件的特性进行最深入的分析。文档编号G01R35/00GK102981135SQ201210468209公开日2013年3月20日 申请日期2012年11月13日 优先权日2012年11月13日专利技术者张亦弛, 林茂六, 苟元潇 申请人:哈尔滨工业大学本文档来自技高网
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【技术保护点】
非线性矢量网络分析仪双端口校准方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一:采用非线性矢量网络分析仪的两个端口分别进行开路、短路和负载校准,采用开路标准件进行开路校准,根据所述开路标准件的标称值和实际测量值获得方程组:e00+ΓOpenΓOpen1Me11-ΓOpenΔx=ΓOpen1Me33+ΓOpenΓOpen2Me22-ΓOpenΔy=ΓOpen2M;采用短路标准件进行短路校准;根据所述短路标准件的标称值和实际测量值获得方程组:e00+ΓshortΓShort1Me11-ΓShortΔx=ΓShort1Me33+ΓshordΓShort2Me22-ΓShortΔy=ΓShort2M;采用负载标准件进行负载校准,根据所述负载标准件的标称值和实际测量值获得方程组:e00+ΓLoadΓLoad1Me11-ΓLoadΔx=ΓLoad1Me33+ΓLoadΓLoad2Me22-ΓLoadΔy=ΓLoad2M;其中:Δx=e00e11?e01e10Δy=e33e22?e32e23式中,Гshort为短路标准件的反射系数真实值,为短路标准件在端口一(2)的反射系数测量值,为短路标准件在端口二(3)的反射系数测量值,ГOpen为开路标准件的反射系数真实值,为开路标准件在端口一(2)的反射系数测量值,为开路标准件在端口二(3)的反射系数测量值,ГLoad为负载标准件的反射系数真实值,为负载标准件在端口一(2)的反射系数测量值,为负载标准件在端口二(3)的反射系数测量值,e00为前向测量方向性误差,e11为前向测量源匹配误差、反向测量负载匹配误差,e22为前向测量负载匹配误差、反向测量源匹配误差,e33为反向测量方向性误差,e01为端口一(2)反向传输项,e10为端口一(2)反向传输项,e32为端口二(3)正向传输项,e23为端口二(3)反向传输项;根据上述获得的三个方程组联立求解,获得8项误差模型的六个系数值e00、e11、Δx、e33、e22、Δy;步骤二:非线性矢量网络分析仪在端口一(2)先后进行功率和相位校准,采用功率标准件进行功率校准,根据所述功率标准件的标称值和实际测量值获得方程:|e01|=1Pmeter|b0e11-a0Δx|2-|b0-a0e00|2;采用相位标准件进行相位校准,根据所述相位标准件的标称值和实际测量值获得方程:式中,a0为功率校准时的入射波测量值,b0为功率校准时的反射波测量值,为功率计读数,ГR为相位参考的输出端反射系数,aR为相位参考的相位真实值;根据上述获得的两个方程联立求解,获得8项误差模型系数e01的模和辐角;步骤三:非线性矢量网络分析仪在端口二(3)先后进行功率和相位校准,采用功率标准件进行功率校准,根据所述功率标准件的标称值和实际测量值获得方程:|e32|=1Pmeter|b0e33-a0Δy|2-|b0-a0e22|2;采用相位标准件进行相位校准,根据所述功率标准件的标称值和实际测量值获得方程:φ(e32)=φ(b0-b0ΓRe33-a0e22+a0ΔyΓRaR);式中,e32为端口二(3)正向传输项;根据上述获得的两个方程联立求解,获得8项误差模型系数e32的模和辐角;步骤四:根据步骤一至步骤三获得的所有系数确定8项误差模型,实现非线性矢量网络分析仪的校准。FDA00002430839000017.jpg,FDA00002430839000018.jpg,FDA00002430839000019.jpg,FDA000024308390000110.jpg,FDA000024308390000111.jpg,FDA000024308390000112.jpg,FDA00002430839000022.jpg,FDA00002430839000023.jpg...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张亦弛林茂六苟元潇
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学
类型:发明
国别省市:

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