测试设备自动校准仪及校准系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种测试设备自动校准仪及校准系统，自动标准仪包括控制器以及与控制器相连的选通模块；控制器用于根据预定设置信息发送选通命令，并控制外部的待校准测试设备相对外部相应的标准测试设备的自动校准；选通模块用于根据选通命令，自动选通控制器与相应的标准测试设备和待校准测试设备之间特定测试通道的电连接，解决了现有技术中需要手动插拔线缆导致的操作复杂和误差大等问题。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种仪器校准技术，尤其涉及一种测试设备自动校准仪及校准系统。
技术介绍
随着社会经济的发展，测试设备在科研、军工、电力及制造等行业中得到广泛应用。在所有的测试设备中，信号发生器和示波器是使用最为广泛的两种测试设备，由于测试设备本身就是一个复杂的电子系统，其受时间、温度环境等多个因素的影响，测试精度会有所改变，因此为了保证产品性能，必须对测试设备进行定期的校准，按照国家计量检定规程的规定，信号发生器需要校准的指标包括频率准确度、电平准确度等三十多个，示波器需要校准的指标多达十多项。 图I为现有技术中信号发生器校准系统的连接示意图，标准信号发生器包括频谱 分析仪2、测量接收机3、微波频率计4和音频分析仪5，以校准谐波指标为例，待校准信号发生器I通过信号电缆与频谱分析仪2相连，手动设置信号发生器I的输出电平、载波频率以及频谱分析仪2的参考电平、中心频率和带宽等，校准过程中还需手动更改待校准信号发生器I的载波频率和频谱分析仪的中心频率，以测试所有要求的谐波峰值，如果需要校准其他指标，则需要重新设置相关参数，还需手动插拔信号电缆将待校准信号发生器I与其他校准设备相连。图2为现有技术中示波器校准系统的连接示意图，待校准示波器7与标准示波器6相连，之后手动恢复待校准示波器7的出厂设置，并手动设置待校准示波器7的采样模式、测量模式、垂直偏转系数、翻转设置和带宽等，根据不同的设置在待校准示波器7上读出不同的测量值，并记录下来，由于待校准示波器7具有很多通道，每个通道还针对不同的测试参数，因此当一个通道的所有校准完成后，需要手动的跟换连线将标准示波器6的输出连接到待校准示波器7的另一个通道。通过以上描述可以看出，现有技术中的测试设备的校准存在以下缺点第一，操作复杂需要手动连接线缆和设置参数；第二，误差大频繁的插拔接插件对测试信号有较大影响，人工记录数据会引入误差。
技术实现思路
本技术提供一种测试设备自动校准仪及校准系统，用于解决现有技术对于信号发生器和示波器校准误差大、操作复杂的问题。一种测试设备自动校准仪，包括控制器以及与控制器相连的选通模块；控制器用于发送选通命令，并控制外部的待校准测试设备相对外部相应的标准测试设备进行校准；选通模块用于根据选通命令，自动选通控制器与相应的标准测试设备和待校准测试设备之间特定测试通道的电连接。一种测试设备自动校准系统，包括上述的测试设备自动校准仪，还包括待校准测试设备和相应的标准测试设备，待校准测试设备和相应的标准测试设备均与选通模块相连。本技术提供的一种测试设备自动校准仪及校准系统，控制器通过选通模块控制外部的待校准测试设备相对外部的相应标准测试设备的自动校准；解决了现有技术中需要手动插拔线缆导致的操作复杂和误差大等问题。附图说明图I为现有技术中信号发生器校准系统的连接示意图。图2为现有技术中示波器校准系统的连接示意图。图3为本技术提供的测试设备自动校准仪一种实施例的结构示意图。图4为本技术提供的测试设备自动校准系统第一种实施例的结构示意图。图5为本技术提供的测试设备自动校准系统第二种实施例的结构示意图。图6为本技术提供的测试设备自动校准系统第三种实施例的结构示意图。图7为本技术提供的测试设备自动校准系统第四种实施例的结构示意图。图8为本技术提供的测试设备自动校准系统第五种实施例的结构示意图。图9为本技术提供的测试设备自动校准方法的流程图。具体实施方式下面参照附图来说明本技术的实施例。在本技术的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或者更多个其他附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。应当注意，为了清楚目的，附图和说明中省略了与本技术无关的、本领域普通技术人员已知的部件和处理的表示和描述。如图3所示，本技术提供的一种测试设备自动校准仪的一种实施例，包括控制器11以及与控制器11相连的选通模块12。控制器11用于根据预定设置信息发送选通命令，并控制外部的待校准测试设备相对外部的相应的标准测试设备进行校准。选通模块12用于根据选通命令，自动选通控制器11与相应的标准测试设备和待校准测试设备之间特定测试通道的电连接。在实际应用过程中，可根据实际需要在控制器重进行预定设置信息，预定设置信息可包括但不限于以下信息选择的待校准测试设备(即操作者期望校准的待校准测试设备)、待校准项目等。进行校准测试时，控制器根据预定设置生成选通命令，并将选通命令发送给选通模块，选通模块根据选通命令执行相应的选通操作。选通命令可包括但不限于标准测试设备ID及其通信通道ID、待校准测试设备ID及其通信通道ID等。选通模块接收该选通命令，确定与标准测试设备ID及其通信通道ID对应的标准测试设备的通信通道，以及确定与待校准测试设备ID及其通信通道ID对应的待校准测试设备的通信通道，之后，建立控制器与确定的标准测试设备的通信通道和待校准测试设备的通信通道之间的电连接。在建立电连接之后，控制器控制待校准测试设备相对相应的标准测试设备进行自动校准。控制器对选通模块的控制操作以及测试设备的自动校准控制，可基于硬件实现，或者，可基于软件实现，例如基于LABVIEW语言进行编程等，本技术对此并不限制。本实施例提供的测试设备自动校准仪，控制器通过选通模块控制外部的待校准测试设备相对外部的相应标准测试设备的自动校准，整个测试过程操作简单，无需操作人员手动插拔线缆等操作，由此解决了现有技术中需要手动插拔线缆导致的操作复杂和误差大等问题。在上述技术方案的基础上，为了提高测试设备自动校准仪建立控制器与外部待校准测试设备和相应标准测试设备选通连接的方便性，可选地，选通模块12为通用PXI (面向仪器系统的PCI扩展)模块化仪器平台。通用PXI模块化仪器平台包括至少一个PXI功能模块板卡，每个PXI功能模块 板卡用于选通连接一类相应标准测试设备和待校准测试设备与控制器的电连接。在通用PXI模块化仪器平台包括多个PXI功能模块板卡的情形下，不同PXI功能模块板卡用于选通相同类或不同类相应标准测试设备和待校准测试设备与控制器的电连接，以便于实现同类或不同类待校准测试设备的并行校准。例如通用PXI模块化仪器平台包括3个PXI功能模块板卡，第一 PXI功能模块板卡用于选通标准信号发生器和待校准信号发生器与控制器的电连接，第二 PXI功能模块板卡用于选通标准示波器和待校准示波器与控制器的电连接，第三PXI功能模块板卡用于选通标准信号发生器和待校准信号发生器与控制器的电连接，等等。控制器11通过MXI(多系统扩展接口)总线与选通模块12相连，PXI功能模块板卡包括多个GPIB接口(通用总线接口)，控制器11通过MXI总线与PXI功能模块板卡的GPIB接口相连。控制器11为工控机或为与通用PXI模块化仪器适配的PXI控制板卡，工控机设有USB接口，通过USB-GPIB (总线转换器)转换可以实现工控机的USB接口对GPIB接口的访问和通信。图4为本技术提供的一种测试设备自动校准系统的一种实施例的结构示意图，自动校准系统包括自动校准仪以及待校准测试设备23和相应的标准测试设备24，测试设备自动校准仪包括控制器21以及选通模块22。待校准测试设备23为至少一台本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试设备自动校准仪，其特征在于，所述测试设备自动校准仪包括：?控制器以及与所述控制器相连的选通模块；?所述控制器用于发送选通命令，并控制外部的待校准测试设备相对外部相应的标准测试设备进行校准；?所述选通模块用于根据所述选通命令，自动选通所述控制器与所述相应的标准测试设备和所述待校准测试设备之间特定测试通道的电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈强，叶川，唐亮，
申请(专利权)人：北京泛华恒兴科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：