一种光纤陀螺测试系统及测试方法技术方案

本申请涉及光纤陀螺性能测试的领域，尤其是涉及一种光纤陀螺测试系统及测试方法，其包括主控制装置

【技术实现步骤摘要】
一种光纤陀螺测试系统及测试方法


[0001]本申请涉及光纤陀螺性能测试的领域，尤其是涉及一种光纤陀螺测试系统及测试方法
。

技术介绍

[0002]光纤陀螺作为一类精密的光电子产品，其生产加工过程涉及材料选型
、
结构设计
、
光路加工
、
电路设与烧制
、
产品装配等诸多环节与步骤，生产流程复杂，工艺精度要求高
。
在光纤陀螺产品的生产过程中，虽然惯性器件生产企业制定了严格的产品生产流程，并按照产品质量跟踪卡的要求进行光纤陀螺的加工与生产，然而生产出来的光纤陀螺产品最终的性能往往千差万别，不合格产品的数量居高不下
。
因此，光纤陀螺性能测试是一个必要的环节，测试的结果可以反映陀螺的准确度与稳定度
。
[0003]光纤陀螺输出电压通常在几个到几十个微伏级别，细微的干扰都将直接破坏测试的准确性；目前，对光纤陀螺的测试有两种，一种是使用高精度测试万用表测量微伏级信号，但其体积较大且其采样率一般仅为
110S/s
左右，不能完整还原测试波形，另一种是通过前置调理放大被测信号，但前置调理放大通常会进行滤波，导致测试误差
。
故目前亟需一种在光纤陀螺原件在生产中进行高精度采样测试的系统，能够更加精确地对光纤陀螺内的性能数据进行测试
。

技术实现思路

[0004]为了能够更加精确地对光纤陀螺内的性能数据进行测试，本申请提供了一种光纤陀螺测试系统及测试方法r/>。
[0005]第一方面，本申请提供一种光纤陀螺测试系统，采用如下的技术方案：一种光纤陀螺测试系统，包括主控制装置
、
测试装置
、
信号采集装置和供电装置，所述测试装置，与所述主控制装置电连接，用于测试光纤陀螺在动态及静态期间于
‑
55℃
至
80℃
的温度中的性能参数；所述信号采集装置，与所述主控制装置电连接，用于对采集光纤陀螺在测试时的模拟信号，并将模拟信号转换为数字信号发送至所述主控制装置；所述供电装置，与所述主控制装置和所述信号采集装置电连接，用于为光纤陀螺供电；所述主控制装置，包括工控机，用于接收采集信号的数字信号后显示，以控制对光纤陀螺测试时的各项数据
。
[0006]进一步地，所述信号采集装置包括数据采集板卡，所述数据采集板卡用于采集光纤陀螺在不同温度值或不同转速值时输出的电压值，其中，所述数据采集板卡的型号设置为
NI PXIe
‑
4309。
[0007]进一步地，所述测试装置包括测试转台和温度控制箱，所述数据采集板卡设置于温度控制箱上，所述测试转台设置于温度控制箱内；所述温度控制箱用于控制光纤陀螺测
试时的温度，所述温度控制箱的温度调节范围为
‑
55℃
至
80℃
，所述测试转台用于放置光纤陀螺并带动光纤陀螺转动
。
[0008]进一步地，所述信号采集装置包括有
32
路信号采集线，每路所述信号采集线均用于供光纤陀螺测试；其中，
16
路所述信号采集线用于采集光纤陀螺的电压值，8路所述信号采集线用于采集光纤陀螺的温度值和角速度值，8路所述信号采集线用于采集消耗电流值
。
[0009]进一步地，所述数据采集板卡与工控机通过铜缆通讯连接，以提升数字信号的传输速率
。
[0010]进一步地，所述供电装置包括供电电源，所述供电电源包括第一电源和第二电源，所述第一电源和第二电源上分别连接有滑环，所述滑环上设置有用于与光纤陀螺连接的接口，所述第一电源和第二电源通过滑环向光纤陀螺供电
。
[0011]进一步地，所述供电装置还包括供电控制机箱，所述供电控制机箱的一端分别于第一电源和第二电源电连接，所述供电控制机箱的另一端分别于两个滑环连接，所述供电控制机箱用于控制第一电源和第二电源的导通
。
[0012]进一步地，所述供电控制机箱内设置有第一开关器和第二开关器，所述第一开关器和第二开关器均与主控器通讯连接，所述第一开关器和第二开关器响应于主控器的启闭信号后通断，所述第一开关器与第一电源串联，所述第二开关器与第二电源串联
。
[0013]第二方面，本申请提供一种光纤陀螺测试方法，采用如下的技术方案：将若干组光纤陀螺组放置于温度控制箱内的测试转台上，基于第一电源和第二电源向光纤陀螺组进行供电；温度控制箱按照预设的温度值调节温度，测试转台按照预设的转速值调节转速，以带动光纤陀螺组转动；通过数据采集板卡获取光纤陀螺对应的输出电压值；基于温度值和转速值与输出电压值之间的对应关系生成输出电压预测函数；通过输出电压预测函数预测的预测输出电压值与输出电压值进行比较，得到光纤陀螺组的判定结果；当光纤陀螺的预测输出电压值与输出电压值相等时，判定该光纤陀螺为合格
。
[0014]进一步地，基于温度值和转速值与输出电压值之间的对应关系生成输出电压预测函数，具体包括，当温度控制箱根据主控机的控制信号调节温度时，测试转台的转速值不变，以使数据采集板卡采集在相同转速不同温度下的输出电压值组；当测试转台根据主控机的控制信号调节转速时，温度控制箱的温度值不变，以使数据采集板卡采集在相同温度不同转速下的输出电压值组；基于温度值和转速值与输出电压值之间的对应关系生成输出电压预测函数
。
[0015]第三方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，采用如下的技术方案：一种计算机可读存储介质，存储有能够被处理器加载并执行如第一方面中任一种方法的计算机程序
。
[0016]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：在对光纤陀螺进行测试时，将若干个光纤陀螺放置于测试装置内，并通过测试装置测试光纤陀螺在动态及静态期间于
‑
55℃
至
80℃
的温度中的性能参数，在测试的过程中通过信号采集装置采集光纤陀螺在测试
时的模拟信号，并将模拟信号转换为数字信号发送至主控制装置；之后，工控机在接收采集信号的数字信号后显示，并将对应温度下的采集的数据进行存储，之后通过工作人员控制测试装置内的各项数据，以获取光纤陀螺在不同温度下更多的输出值，以提高数据收集的全面性，从而更加精确地测试光纤陀螺的各项性能数据
。
附图说明
[0017]图1是本申请实施例一种光纤陀螺测试系统的机柜图
。
[0018]图2是本申请实施例一种光纤陀螺测试系统的框图
。
[0019]图3是本申请实施例一种光纤陀螺测试方法的流程图
。
[0020]图4是本申请实施例一种光纤陀螺测试方法的流程图，主要用于表示温度值与转速值的调整关系
。
具体实施方式
[0021]为了使本申请的目的
、
技术方案及优点更加清楚明本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光纤陀螺测试系统，其特征在于：包括主控制装置
、
测试装置
、
信号采集装置和供电装置，所述测试装置，与主控制装置电连接，用于测试光纤陀螺在动态及静态期间于
‑
55℃
至
80℃
的温度中的性能参数；所述信号采集装置，与所述主控制装置电连接，用于对采集光纤陀螺在测试时的模拟信号，并将模拟信号转换为数字信号发送至所述主控制装置；所述供电装置，与所述主控制装置和所述信号采集装置电连接，用于为光纤陀螺供电；所述主控制装置，包括工控机，用于接收采集信号装置发送的数字信号后显示，以控制对光纤陀螺测试时的各项数据
。2.
根据权利要求1所述一种光纤陀螺测试系统，其特征在于：所述信号采集装置包括数据采集板卡，所述数据采集板卡用于采集光纤陀螺在不同温度值或不同转速值时输出的电压值，其中，所述数据采集板卡的型号设置为
NI PXIe
‑
4309。3.
根据权利要求2所述一种光纤陀螺测试系统，其特征在于：所述测试装置包括测试转台和温度控制箱，所述数据采集板卡设置于温度控制箱上，所述测试转台设置于温度控制箱内；所述温度控制箱用于控制光纤陀螺测试时的温度，所述温度控制箱的温度调节范围为
‑
55℃
至
80℃
，所述测试转台用于放置光纤陀螺并带动光纤陀螺转动
。4.
根据权利要求3所述一种光纤陀螺测试系统，其特征在于：所述信号采集装置包括有
32
路信号采集线，每路所述信号采集线均用于供光纤陀螺测试；其中，
16
路所述信号采集线用于采集光纤陀螺的电压值，8路所述信号采集线用于采集光纤陀螺的温度值和角速度值，8路所述信号采集线用于采集消耗电流值
。5.
根据权利要求4所述一种光纤陀螺测试系统，其特征在于：所述数据采集板卡与工控机通过铜缆通讯连接，以提升数字信号的传输速率
。6.
根据权利要求5...

【专利技术属性】
技术研发人员：张凯，张兆鹏，
申请(专利权)人：北京泛华恒兴科技有限公司，
类型：发明
国别省市：