一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用。所述装置包括组件A和组件B，所述组件A包括不锈钢板a、Be玻璃窗a和绝缘板，所述不锈钢板a和绝缘板上均设有通孔，所述Be玻璃窗a位于不锈钢板a与绝缘板之间的通孔处，且通过固定不锈钢板a和绝缘板使Be玻璃窗a固定于其间；所述组件B包括不锈钢板b和Be玻璃窗b，所述不锈钢板b上设有通孔，所述Be玻璃窗b通过固定件绝缘固定在不锈钢板b的通孔内；且所述组件A与组件B间固定连接。本发明专利技术装置可实现X射线透射式或反射式进行原位或非原位测定电极材料的同步辐射X射线衍射数据，且可重复利用，具有极大的应用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种X射线衍射装置，具体说，是涉及一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用。
技术介绍
自1912年首次发现X射线衍射以后，其理论和应用得到了深入广泛的发展，使人们了解了微观世界(原子、分子尺度)。X射线衍射技术成为认识和改造物质结构的有利工具，在已发展了近百年的今天，其重要性依旧。按照欲解决问题的不同和所用试样状态的不同，可将X射线衍射分为X射线单晶体衍射(XRD)和X射线多晶体(粉末)衍射(PXRD)两类。当今材料科学、环境科学以及生命科学等科学的飞速发展与X射线衍射技术的进步都是密不可分的。通过研究电极材料在充放电过程中电极材料的电化学行为和微结构的变化，可以分析电极材料的充放电反应机理和循环过程中的衰减机理，进而为提高电极材料的电化学性能、延长电池使用寿命提供有力的理论支持。在众多的分析方法中X射线衍射技术是一种用于观察电极材料微观结构的常用手段，已有非常多的相关文献报道。如娄豫皖等人采用非原位或准原位X射线衍射技术分析了电极材料在充放电过程中的微观结构变化，但他们的方法需要拆解电池，然后用超声振动法从电极上取下活性物质，并洗涤至中性后烘本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置，其特征在于：包括组件A和组件B，所述组件A包括不锈钢板a、Be玻璃窗a和绝缘板，所述不锈钢板a和绝缘板上均设有通孔，所述Be玻璃窗a位于不锈钢板a与绝缘板之间的通孔处，且通过固定不锈钢板a和绝缘板使Be玻璃窗a固定于其间；所述组件B包括不锈钢板b和Be玻璃窗b，所述不锈钢板b上设有通孔，所述Be玻璃窗b通过固定件绝缘固定在不锈钢板b的通孔内；且所述组件A与组件B间固定连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郭向欣，赵宁，崔忠慧，
申请(专利权)人：中国科学院上海硅酸盐研究所，
类型：发明
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