一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统及方法，属于材料特性测试领域。所述系统包括主真空室、连杆、抽气装置、副真空室、高真空插板阀、样品舟、石英晶体微量天平、低温冷沉；所述方法包括设定低温冷沉和石英晶体微量天平的温度，向副真空室内通入氮气；将试样称重后放入样品舟中，将样品舟装入副真空室后关闭副真空室，切断氮气开启抽气装置；将样品舟移入主真空室中石英晶体微量天平的正下方，关闭高真空插板阀；将试样加热至试样的出气温度，每隔设定时间记录一次石英晶体微量天平的频率变化Δf和温度T；计算试样的总质量损失。所述方法提高了测量精度，有效避免了装卸样品时大气对测试系统的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，属于材料特性测试领域。
技术介绍
非金属材料，如有机、聚合、无机材料在真空条件下会挥发气体，从而造成质量损失。非金属材料的质量损失率是材料的重要性能，是航天材料选用的依据之一。而现有的原位测试方法，利用卡恩型真空微量天平，测量灵敏度仅为io_5g，无法满足现在的使用要求。且需要采用非接触的加热和测温方法，样品温度控制仅能控制到±2. 5°C。因此需要一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统及相应的监测方法，克服现有原位测试方法测量精度低的不足，提高测试样品的温控精度。
技术实现思路
本专利技术提供了，能够克服现有原位测试方法测量精度低的不足，提高测试样品的温控精度。为实现上述目的，本专利技术的技术方案如下一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统，所述系统包括主真空室、连杆、抽气装置、副真空室、高真空插板阀、样品舟、石英晶体微量天平、低温冷沉；其中，主真空室为圆柱体结构；在主真空室内壁的顶部和四周位置分别设有低温冷沉，石英晶体微量天平固定在主真空室顶部的低温冷沉上；样品舟放置在主真空室底面上，与石英晶体微量天平相对放置；主真空室和副真空室之间通过管路和高真空插板阀连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种真空中非金属材料质量损失的原位监测系统，其特征在于：所述系统包括：主真空室（1）、连杆（2）、抽气装置（3）、副真空室（4）、高真空插板阀（5）、样品舟（6）、石英晶体微量天平（7）、低温冷沉（8）；其中，主真空室（1）为圆柱体结构；在主真空室（1）内壁的顶部和四周位置分别设有低温冷沉（8），石英晶体微量天平（7）固定在主真空室（1）顶部的低温冷沉（8）上；样品舟（6）放置在主真空室（1）底面上，与石英晶体微量天平（7）相对放置；主真空室（1）和副真空室（4）之间通过管路和高真空插板阀（5）连接；连杆（2）与主真空室（1）和高真空插板阀（5）相通；连杆（2）一端位于副真空室（4）内，另一端...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：庄建宏，王鹢，郭兴，姚日剑，杨青，田海，
申请(专利权)人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所，
类型：发明
国别省市：