具基准点标示装置的雷射测距仪制造方法及图纸

技术编号:8438077 阅读:268 留言:0更新日期:2013-03-17 22:28
本实用新型专利技术提供一种具基准点标示装置的雷射测距仪,包含:一测距仪本体,其内设有一测距光束发射装置,该测距光束发射装置可往一目标物发射一测距光束;其中,测距仪本体内并设有一测距光束接收装置,该测距光束接收装置可接收自目标物反射的测距光束,以计算测距仪本体与目标物间的距离;以及一基准点标示装置,该基准点标示装置可沿该测距光束的法线方向发射一标示光束,以于一基准面处形成一基准点标示。藉此,使用者可清楚辨明测距光束的量测起始点位置,避免量测误差。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术与一种雷射测距仪结构有关,特别关于一种藉由一基准点标示装置发射一标示光束形成基准点标示,达到清楚辨明测距光束的量测起始点位置、避免量测误差的目的。
技术介绍
习知的手持式雷射测距仪较全站仪具有体积小、携带方便及造价低的优点,因此,相当适合个人随身携带使用,以及于小型工作场所量测使用。但由于习知的雷射测距仪由于本身较为简便,使用者以手持量测距离时,仅能以 目视大概对准参考物(如一般常见设于地面的地桩或其它标定物),以对目标物进行距离量测。然而,此一参照对准方式并不准确,常会因使用者个人操作技术,造成误差产生。综合上开先前技术的缺点,大致上包括习知雷射测距仪仅能以目视大概对准参考物,容易因使用者个人操作技术,造成量测误差产生。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种具基准点标示装置的雷射测距仪,以解决现有技术存在的缺陷,其结构简单,使用方便,可清楚辨明测距光束的量测起始点位置,避免量测误差。为实现上述目的,本技术公开了一种具基准点标示装置的雷射测距仪,其特征在于包含—测距仪本体,其内设有一能往一目标物发射一测距光束的测距光束发射装置;其中,测距仪本体内设有一能接收自目标物反射的测距光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具基准点标示装置的雷射测距仪,其特征在于包含:一测距仪本体,其内设有一能往一目标物发射一测距光束的测距光束发射装置;其中,测距仪本体内设有一能接收自目标物反射的测距光束以计算测距仪本体与目标物间距离的测距光束接收装置;以及一能沿该测距光束的法线方向发射一标示光束以于一基准面处形成一基准点标示的基准点标示装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李友正
申请(专利权)人:仲阳企业有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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