基于二阶相干的热光测距方法技术

本发明专利技术公开了一种基于二阶相干的热光测距方法，用于解决现有的热光测距方法测距分辨率低的技术问题。技术方案是首先进行离散符合测量，根据输入的时间序列标签进行循环的符合运算，得到曲线拟合所需要的一系列归一化的时间二阶相干函数的样本点；再进行基于最小二乘的曲线拟合，拟合出二阶相干函数峰值所对应的Δτ的值。由于利用热光的二阶相干函数g(2)(τ)的单峰特性及飞秒量级的半高宽，采用离散符合测量和基于最小二乘的曲线拟合方法，提高了测距分辨率和系统抗干扰能力。与背景技术相比较测距分辨率提升两个精度以上。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种热光测距方法，特别是涉及一种。
技术介绍
文献I “A. McCarthy, R. J. Collins, N. J. Krichel, V. Fernandez, A. M. Wallace,and G. S. Buller, “Long-range time-of-flight scanning sensor based on high-speedtime-correlated single-photon counting, ”Appl. Opt. 48,6241-6251 (2009) ·，，公开了一种利用光场的一阶相干性来实现距离测量，基于波长干涉仪，通过测量信号的相位漂移，可以达到亚纳秒的分辨率，但是这种方式的测量范围受到模糊距离的限制，只能到达激光波长的一半。即使使用多波长干涉，延展后的模糊距离一般也在毫米量级，显然不足以满足长距离测量的要求并且对与测量信号相同中心频率的环境噪声和干扰信号十分敏感
技术实现思路
为了克服现有的热光测距方法测距分辨率低的不足，本专利技术提供一种。该方法利用热光的二阶相干函数g(2)(T)的单峰特性及飞秒量级的半高宽，采用离本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于二阶相干的热光测距方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一、根据输入的时间序列标签进行循环的符合运算，得到曲线拟合所需要的一系列归一化的时间二阶相干函数的样本点；在某个延时τ下，两路时间序列的符合数和二阶相干函数g(2)(τ)有如下的关系：g(2)(τ)=n(τ)-Tδ(R1+γ1)(R2+γ2)+TδR1R2TδR1R2---(1)式中，T是总采样时间，δ为符合门宽，R1和R2为探测器1和探测器2的有用光子计数率，r1和r2为对应探测器的暗计数率和环境噪声引起的计数率之和，n(τ)为符合数；且当Ri>>ri(i＝...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭进业，冯晓毅，曹正文，霄祥，李会方，曾贵华，王云江，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：