距离测定装置制造方法及图纸

技术编号:8190366 阅读:165 留言:0更新日期:2013-01-10 01:26
本发明专利技术提供在反射光的受光水平成为饱和状态时也能够高精度地测定距离的距离测定装置。距离测定装置的发光部朝向被测定物出射测定光。受光部,对从被测定物反射的反射光进行受光。距离计算部,基于从出射测定光时起到反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间,求取到被测定物的距离。距离修正部,在受光水平成为饱和状态、峰值的时刻不能够确定时,根据受光水平饱和的时间的长度修正到被测定物的距离的值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及距离测定装置
技术介绍
以往以来,已知有以下的距离测定装置使脉冲激光朝向被测定物发光,测定直至接收到从被测定物反射的反射光为止的经过时间,基于该经过时间和激光的传输速度测定到被测定物的距离。另外,在距离测定装置中,提出了下述技术在计测朝向计测对象发送的信号与由计测对象反射回来的受光信号的时间差时,通过选择表示最可能准确的原本时间的受光信号而使测定误差降低(参照特开2008-275379号公报)。 但是,在以往的距离测定装置中,例如在反射光的受光水平成为饱和状态的情况下测距精度会变差。
技术实现思路
鉴于上述情况,本专利技术提供在反射光的受光水平成为饱和状态时也能够高精度地测定距离的距离测定装置。一种方式的距离测定装置,具备发光部、受光部、距离计算部和距离修正部。发光部,朝向被测定物出射测定光。受光部,对从被测定物反射的反射光进行受光。距离计算部,基于从出射测定光时起到反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间,求取到被测定物的距离。距离修正部,在受光水平成为饱和状态、峰值的时刻不能够确定时,根据受光水平饱和的时间的长度修正到被测定物的距离的值。在一种方式的距离测定装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种距离测定装置,其特征在于,具备:发光部,其朝向被测定物出射测定光;受光部,其对从前述被测定物反射的反射光进行受光;距离计算部,其基于从出射前述测定光时起到前述反射光的受光水平表示峰值的时刻为止的经过时间,求取到前述被测定物的距离;以及距离修正部,其在前述受光水平成为饱和状态、前述峰值的时刻不能够确定时,根据前述受光水平饱和的时间的长度修正到前述被测定物的距离的值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:大室仁
申请(专利权)人:株式会社尼康美景
类型:发明
国别省市:

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