一种PLC光分路器的测试装置制造方法及图纸

技术编号:8402158 阅读:208 留言:0更新日期:2013-03-08 19:55
本实用新型专利技术涉及一种PLC光分路器的测试装置,该装置包括样品架、输入端FA、接收端设备、光开关,LED白光源、宽带红外光源、计算机,所述的样品架前方设有输入端FA,后方设有接收端设备,所述的LED白光源和宽带红外光源的输出经光纤并联连接到光开关,所述的计算机分别连接LED白光源、宽带红外光源、光开关和接收端设备。与现有技术相比,本实用新型专利技术具有测试效率高等优点。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于集成光学领域,尤其涉及一种PLC光分路器的测试方法,用以提高企业的工作效率。
技术介绍
随着FTTH的普及,PLC光分路器的需求量越来越大。PLC光分路器技术指标优异,器件体积小,单个器件的分路通道多,可达到128路。在大规模生产和应用上都较之光纤拉锥型分路器有压倒性的优势。 但是,多通道数的PLC器件测试很繁琐,提高多通道分路器的测试效率,是工程应用上具有很大意义的课题。现有的多通道多波段测试系统,PLC的输入端利用光开关实现多波段选择输入,PLC的输出端接多通道功率计实时显示测得的光功率。这样只要把光纤阵列与PLC的输入输出对准,即可测试全通道多波段的损耗值。这种方法最消耗时间的步骤在与光纤阵列与PLC的对准和耦合,需要手动进行调节。因为波导的尺寸很小,只有微米量级,普通摄像头的放大倍率有限,难以观察清楚是否完全对准耦合。工程上可行的做法是,根据功率计的实时读数来判断是否对准。但是,只有在输入和输出都对准的情况下,光功率计才会有读数。同时调节输入和输出使其对准是费时费力的。
技术实现思路
本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种效率高的PLC光分路器的测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PLC光分路器的测试装置,其特征在于,该装置包括样品架、输入端FA、接收端设备、光开关,LED白光源、宽带红外光源、计算机,所述的样品架前方设有输入端FA,后方设有接收端设备,所述的LED白光源和宽带红外光源的输出经光纤并联连接到光开关,所述的计算机分别连接LED白光源、宽带红外光源、光开关和接收端设备。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:肖熠王毅强商惠琴王明华杨建义郝寅雷
申请(专利权)人:上海光芯集成光学股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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