描述了一种用于检测呈现出测量截止波长的光缆的故障铺设的方法。该方法包括：提供用于传输光信号的光缆，该光缆包括至少一条单模光纤，所述光纤在于至少一个预定测试波长下绕等于或小于5mm的弯曲半径缠绕一圈的情况下测量时具有等于或大于第一阈值的衰减，并且在于等于或大于测量截止波长的工作波长下绕等于至少最小弯曲半径的弯曲半径缠绕一圈的情况下测量时具有小于第二阈值的衰减，其中测试波长小于测量截止波长；铺设光缆；及在预定测试波长下测量至少一条光纤中的衰减。还描述了呈现单模传输并且在经线缆长度传播之后在等于或大于测量截止波长的波长下对弯曲不敏感的光缆。优选地，测量截止波长是1260nm。所述光缆包括至少一条在不大于测量截止波长的预定测试波长下对弯曲敏感而且在大于测量截止波长的工作波长下对弯曲不敏感的光纤，其中光缆以单模方式运行。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及检查对弯曲不敏感的光缆的安装和/或铺设的方法，而且涉及当以单模方式工作时对弯曲不敏感的光缆。
技术介绍
单模光纤在光纤到户(FTTP)应用(包括光纤到家(FTTH)和光纤到楼(FTTB)应用) 中的使用通常要求传输通过光纤的光信号的弯曲损耗低，在可能强加急弯半径的苛刻安装约束(例如，由于建筑物中的急转弯或者光纤的压缩)下也同样要求。特别地，目的在于小型化无源场装备的光缆布线和硬件应用，例如，局部汇流箱或者存储盒，及多住户单元(MDU) 的开发要求具有优良弯曲性能的光纤设计。此外，稀疏波分复用系统(CWDM)和无源光网络 (PON)系统也可能需要采用对弯曲不敏感的光纤。为了标准化特别适于FTTP应用的光纤的弯曲性能，ITU-T (国际电信联盟，ITU电信分部)最近开发出了定义具有增强弯曲性能的单模光纤的推荐标准G. 657 (11/2009)。为了符合国际标准，除弯曲性能之外，光纤性能还可以关于其它相关的光学参数 (例如，截止波长和模场直径(MFD))来评估。对于在MFD、截止波长与弯曲损耗之间找到折中有用的一个参数是所谓的MAC数，这是MFD与截止波长之比。已经观察到，为了获得低弯曲损耗,MAC数应当减小。在于Optics Communications 第107卷(1994年)第361-364页上发表的、由C. Unger和W. Stocklein所写的 “Characterization of the bendingsensitivity of fibres by the MAC value，，中，石开究了匹配包层光纤的宏弯性能与微弯性能及与MAC数的关联。文章声明阶跃折射率光纤的弯曲行为完全由MAC数来表征，而且宏弯损耗与微弯损耗随着MAC数的增加而增加。专利申请WO 2009/154712描述了一种包括两条光纤的光纤线缆，每条光纤都是微结构弯曲性能光纤。据称，所公开解决方案的光纤线缆允许例如为了安装、松弛存储等而有激烈的弯曲，而且同时抑制会造成光纤损坏和/或断裂的弯曲半径。在光缆的安装与部署过程中，为了检测光纤网络中的故障，通常执行光衰减的现场测试。这种光学测试是通过传输和/或反射测量来执行的，而且一般是利用光时域反射仪(OTDR)技术。专利US 7，167，237公开了一种在不影响其它用户光学终端和传输装置的情况下从一个用户光学终端侧对从该用户光学终端到光分路器的光路(optical line)进行故障搜索的系统，这是通过把一个OTDR连接到所述光路在该用户光学终端中的终端部分并且通过使用其中所连接OTDR中所使用的波长值设置成与光路中用于数据传输的波长值不同的值和光脉冲的峰值水平设置成预定的水平或更小的那些中的至少一个。测试光的波长是与光路中用于数据传输的光的波长不同的波长，尤其是包括在大于或等于0.3μπι且小于I.3 μ m或者大于I. 65 μ m且小于或等于2. O μ m范围中一个范围内的值。由K. Clarke和A. Duncan在1993年11月28日至12月I日的第18届澳大利亚光纤技术会议学报第31-34页上发表的“Developmentand Application of a Long wavelength 0 TDR to provide Early warningof Degradation in a Fibre Network，，描述了工作在 1662nm、用于带外监视的0TDR，以便克服在与光纤上携带流量所使用的波长相同的波长进行监视的缺点。由D. Miles在Test第2期第28卷(2002年3月)第8-10页上发表的“Locate fiber optic cable interrupting service”描述了利用测试带外波长的多波长OTDR进行测试。据称，较高的波长，即，1625nm，对于发现随后会发展成断裂或者应力或温度损耗的弯曲非常有效。JP 4-351935的日本专利文摘描述了使用比信号波长更长和更短的测试波长的光脉冲测试仪及光带通路滤波器。该文摘公布，利用较长波长测试光获得的后向散射将灵敏地测试和监视到光纤的弯曲损耗，而利用较短波长测试光获得的后向散射将灵敏地测试和监视到光纤的连接损耗。专利申请JP 2-027231涉及光纤纵向变形测量方法，该方法利用从被测光纤中光信号传输所使用的波长形成的第一波长光及从对于被测光纤中各种类型变形量的光损耗都比第一波长光的波长出现更多的至少一个波长形成的第二波长光，第一波长光和第二波长光的每个光脉冲的输入都来自被测光纤的一端，而且，对例如被测光纤弯曲的变形的测量是基于被测光纤中反射的第一波长光和第二波长光的每个光脉冲的衰减量的差异及衰减量随时间变化的差异的对比评估。OTDR测试可以提供关于可能存在急弯的有用信息，特别是半径小于制造商所推荐的最小半径的弯曲，这种急弯可能不利地影响光纤的机械寿命。急弯可能是在铺设过程中偶然引入的或者是为了加速安装过程而不太认真部署实践的结果，例如光分支线缆的激烈订装和拐角周围的急弯部署。特别地，急弯半径可能造成光纤表面的裂缝，这种裂缝会逐步扩展而且有可能最终导致光纤的永久性损坏或裂开。 光纤的长期机械可靠性可以依赖于检测危险性弯曲存在的能力。专利申请US 2006/0115224描述了具有在1.31 μ m波段内的截止波长的单模光纤，其中，调整纤芯关于包层的相对折射率差，使得当施加半径小于极限弯曲半径的弯曲时，弯曲损耗变得大于检测极限值，所述极限弯曲半径是从施加到光纤的弯曲半径与预定时间段之后故障发生的概率之间的关系计算出来的。在一种实施方式中，光纤具有阶跃折射率分布。从阶跃折射率光纤所公开的结果指示，当纤芯与包层之间的折射率差大于大约 0. 80%时，在5. 5mm的极限弯曲半径内，由弯曲造成的损耗降低到大约0. OldB/圈或者更小， 据称这使得难以利用OTDR进行测量。关于光纤的光学测量是在I. 31、I. 55和I. 625 μ m的传输波长下执行的。专利申请EP I 256 826 A2公开了一种构造成防止盗取光信号的光纤设计。允许光信号的一部分信号盗取分接的一种技术是在光纤中形成弯曲，这种弯曲使得光信号“泄漏”到光纤包层中，光信号在那里无需源或接收站就可以被截获。这种入侵的情况是通过把光纤对微弯损耗的敏感性增加到使光纤中的弯曲造成这种弯曲不会不被检测出来的高衰减的程度来解决的。高度弯曲敏感的光纤是通过在与光纤纤芯有相当大距离的地方引入未掺杂的外环区域来生产的。该文档提到，假定光纤线缆安装成具有大的最小弯曲半径，那么这种对弯曲敏感的设计不会不利地影响传输属性。由本申请人在2008年11月7日提交的专利申请PCT/EP2008/065174涉及一种光缆，这种光缆具有从输入端延伸到输出端的线缆长度，而且包括至少一条线缆截止波长从 1290nm至1650nm的单模光纤，其中所述至少一条光纤以绞距P绕纵向方向螺旋绞合达绞合长度L，L和P的值选择成使得光缆呈现出基本单模传输，而且其中所述绞合长度L沿所述线缆长度的至少一部分延伸。特别地，绞合长度L和绞距P被选择为使得光缆中测量到的截止波长等于或小于1260nm。
技术实现思路
按照对光纤弯曲不敏感性的始终更苛刻的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：M·鲁奇尔，S·卡特兰，A·马切塔，A·科拉罗，V·卡罗纳，
申请(专利权)人：普睿司曼股份公司，
类型：
国别省市：
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