本发明专利技术公开一种LED背光驱动电路、背光模组和液晶显示装置。所述LED背光驱动电路包括灯条，与灯条耦合的电源模块，所述灯条与所述电源模块之间通过柔性电路板连接，所述灯条还串联有测量电阻，所述测量电阻的两端分别设有测试点。本发明专利技术由于在测量电阻两端增加了测试点，这样万用表等测量工具的探头就可以跟测试点可靠接触，也不容易接触到其他元器件，提升了测量的可靠性。在用示波器测量的时候也可以将细导线直接焊接在测试点，测试点避开了测量电阻的焊盘，导线之间不容易短路，操作方便，可靠性高。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示领域，更具体的说，涉及一种LED背光驱动电路、背光模组和 液晶显示装置。
技术介绍
随着LED的普及，现有的液晶显示装置已经大量采用LED来作为背光源。参见图 1具体是做法是将多颗LED串联成灯条(light bar)，然后将灯条两端连接到电源模块，由 电源模块进行驱动。灯条跟电源模块一般用用普通线材连接，其优点是测量LED串的电流 时比较容易，但用普通线材连接成本较高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种能低成本，同时方便测量LED串电流的 LED背光驱动电路、背光模组和液晶显示装置。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的一种LED背光驱动电路，包括灯条，与灯条耦合的电源模块，所述灯条与所述电源 模块之间通过柔性电路板连接，所述灯条还串联有测量电阻，所述测量电阻的两端分别引 出有测试点。进一步的，所述测试点的面积大于电阻焊盘的面积。专利技术人通过研究还进一步发 现，测试电阻的焊盘由于比较小，导线焊接上去的时候，焊材及其焊接在焊盘上的导线头形 成的焊点很可能超出焊盘的范围，这样容易跟邻近的焊盘或其他元器件接触，造成短路；而 本技术方案中测试点的面积比测试点的面积大，因此焊点不容易超出测试点的范围，进一 步提升测量的可靠性。另外，大的测试点降低了测试的难度和焊线的难度，操作也更简单。进一步的，所述测量电阻两端还延伸有引线，所述测试点设置在引线远离测量电 阻的一端。本技术方案采用引线作为过渡，这样可以在测试电阻周边空间狭小，不利于测试 的时候将测试点延伸到比较开阔、更利于测试的电路板区域，进一步方面测试人员测试，提 升测试的可靠性。进一步的，所述测试点之间的间距大于所述测量电阻两端焊盘之间的间距。加大 间距，可以在焊接细导线的时候，相邻两根细导线不容易接触，进一步避免细导线之间的短 路。进一步的，所述测量电阻串联在所述灯条的输出端；所述测量电阻和所述LED背 光驱动电路的接地端之间串联有调光可控开关，所述调光可控开关的控制端连接有恒流驱 动芯片。此为一种带恒流控制功能的LED背光驱动电路。进一步的，所述调光可控开关和所述接地端之间串联有采样电阻，所述采样电阻 两端的电压差反馈回所述恒流驱动芯片。此为一种带反馈的恒流控制功能的LED背光驱动 电路。进一步的，所述恒流驱动芯片包括比较器，所述采样电阻两端的电压差反馈回比较器的比较端，所述比较器的输出端耦合到所述调光可控开关的控制端。此为一种具体的 恒流驱动芯片的电路结构。进一步的，所述测量电阻串联在所述灯条的输出端，所述测量电阻和所述LED背 光驱动电路的接地端之间依次串联有调光可控开关、采样电阻；所述调光可控开关的控制 端连接有恒流驱动芯片；所述恒流驱动芯片包括比较器，所述采样电阻两端的电压差反馈 回比较器的比较端，所述比较器的输出端耦合到所述调光可控开关的控制端；所述测量电 阻两端还延伸有引线，所述测试点设置在引线远离测量电阻的一端；所述测试点的面积大 于电阻焊盘的面积；所述测试点之间的间距大于所述测量电阻两端焊盘之间的间距。此为 一种具体的LED背光驱动电路—种背光模组，包括上述的一种LED背光驱动电路。一种液晶显示装置，包括上述的一种背光模组。本专利技术采用柔性电路板(FFC)替代普通线材连接，降低了成本，并在布局变换 (layout converter)时，在每串LED的线路中放置一颗测量电阻，用万用表测量出该电阻上 的电压值，通过欧姆定律即可计算出LED串灯条的电流值。但由于电路板空间比较小，万用 表测量时容易接触不良。另外，3D模式下的LED电流波形为矩形波，用万用表无法测量出 占空比，需要使用电烙铁将测量电阻取下，然后在测量电阻的焊盘两端焊接一根细导线，再 用示波器的电流勾表测量LED电流波形，测量电阻焊盘之间距离很近，实际焊接时容易出 现短路情况，操作较复杂，容易浪费时间。本专利技术由于在测量电阻两端另引出并增加了测试 点，这样万用表等测量工具的探头就可以跟测试点可靠接触，也不容易接触到其他元器件， 提升了测量的可靠性。在用示波器测量的时候也可以将细导线直接焊接在测试点，测试点 避开了测量电阻的焊盘，导线之间不容易短路，操作方便，可靠性高。附图说明图1是现有技术的LED驱动原理示意图；图2是本专利技术实施例的原理示意图。具体实施例方式本专利技术公开了一种液晶显示装置，该液晶显示装置包括背光模组，背光模组包括 一种LED背光驱动电路，该LED背光驱动电路包括灯条，与所述灯条串联的测量电阻，所述 测量电阻的两端分别设有测试点，所述测试点的面积大于电阻焊盘的面积。本专利技术由于在测量电阻两端增加了测试点，测试点的面积比测试电阻两端的大， 这样万用表等测量工具的探头就可以跟测试点可靠接触，也不容易接触到其他元器件，提 升了测量的可靠性。专利技术人通过研究还进一步发现，测试电阻的焊盘由于比较小，导线焊接 上去的时候，焊材及其焊接在焊盘上的导线头形成的焊点很可能超出焊盘的范围，这样容 易跟邻近的焊盘或其他元器件接触，造成短路；而本专利技术中测试点的面积比测试点的面积 大，因此焊点不容易超出测试点的范围，进一步提升测量的可靠性。另外，大的测试点降低 了测试的难度和焊线的难度，操作也更简单。下面结合附图和较佳的实施例对本专利技术作进一步说明。如图2所示，本实施方式公开一种LED背光驱动电路。该LED背光驱动电路包括灯条，与灯条串联的测量电阻R1，测量电阻R1串联在灯条的输出端，测量电阻R1和LED背光 驱动电路的接地端之间依次串联有调光可控开关Q1、采样电阻R2 ;调光可控开关Q1的控制 端连接有恒流驱动芯片；恒流驱动芯片包括比较器0P，采样电阻R2两端的电压差反馈回比 较器0P的比较端，比较器0P的输出端耦合到调光可控开关Q1的控制端。测量电阻R1两 端设有向外延伸的引线，引线远离测量电阻R1的一端设有测试点(TX1，TX2);测试点(TX1， TX2)的面积大于电阻焊盘的面积，测试点(TX1，TX2)之间的间距大于测量电阻R1两端焊 盘之间的间距。本实施例采用引线作为过渡，这样可以在测试电阻周边空间狭小，不利于测试的 时候将测试点延伸到比较开阔、更利于测试的电路板区域，进一步方面测试人员测试，提升 测试的可靠性。另外，加大测试点之间的间距，可以在焊接细导线的时候，相邻两根细导线 不容易接触，进一步避免细导线之间的短路。当然，本专利技术也可以不用引线，直接在测试电 阻两端设置测试点。以上内容是结合具体的优选实施方式对本专利技术所作的进一步详细说明，不能认定 本专利技术的具体实施只局限于这些说明。对于本专利技术所属
的普通技术人员来说，在 不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本专利技术的 保护范围。权利要求1.一种LED背光驱动电路，所述LED背光驱动电路包括灯条，与灯条耦合的电源模块，其特征在于，所述灯条与所述电源模块之间通过柔性电路板连接，所述灯条还串联有测量电阻，所述测量电阻的两端分别弓丨出有测试点。2.如权利要求I所述的一种LED背光驱动电路，其特征在于，所述测试点的面积大于电阻焊盘的面积。3.如权利要求I所述的一种LED背光驱动电路，其特征在于，所述测量电阻两端还延伸有引线，所述测试点设置在引线远离测量电阻的一端。4.如本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种LED背光驱动电路，所述LED背光驱动电路包括灯条，与灯条耦合的电源模块，其特征在于，所述灯条与所述电源模块之间通过柔性电路板连接，所述灯条还串联有测量电阻，所述测量电阻的两端分别引出有测试点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张华，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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