用于测试待测试电路的设备和方法技术

本发明专利技术涉及用于测试待测试电路的设备和方法。用于测试待测试电路的设备包括校正子确定器（110）、测试序列提供器（120）和分析电路（130）。校正子确定器（110）基于编码二进制字确定误差校正子比特序列。在此，误差校正子比特序列表明编码二进制字是否是用于对编码二进制字进行编码所使用的误差校正码的码字。此外，至少每当误差校正子比特序列表明编码二进制字是误差校正码的码字时，测试序列提供器就给待测试电路（102）提供与所确定的误差校正子比特序列不同的测试比特序列。另外分析电路（130）基于待测试电路（102）的由测试比特序列引起的测试输出信号来识别通过待测试电路（102）对测试比特序列的有误差的处理。

【技术实现步骤摘要】

根据本专利技术的实施例涉及二进制信号中的误差校正和误差识别领域并且尤其是涉及。
技术介绍
由于集成电路的器件进一步缩小和与之相关联的较小的电压值和电流值越来越多地在集成电路中和特别是也在用于误差校正或用于误差识别的电路中出现误差。这种误差可能导致，进行错误校正，即使在校正电路的输出端处根本不存在有误差的码字，这是不利的。如果由于有误差的误差识别电路而有误差地表明误差，则可能不必要地触发系统层面上的措施，这同样是不利的。通过添加冗余，在电子电路中可以识别电路中的静态的或暂时的误差。但是在此应该在高识别概率的情况下将附加的硬件耗费保持得尽可能小。
技术实现思路
本专利技术的任务是实现一种用于测试电路的改善的方案，所述方案使得能够在小附加硬件耗费和/或小附加计算时间的情况下提高误差识别特性。该任务通过根据权利要求I的设备、根据权利要求21的方法或者根据权利要求22的计算机程序来解决。实施例实现一种用于测试待测试电路的设备，具有校正子确定器(Syndrombestimmer)、测试序列提供器和分析电路。校正子确定器被设计用于基于编码二进制字来确定误差校正子比特序列。误差校正子比特序列表明，编码本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于测试待测试电路（102,?13,?24,?44,?54,?641,?642,?742,?86）的设备（100,?200,?300,?400,?500,?600,?700,?800,?900,?1000,?1100），具有以下特征：校正子确定器（110,?11,?21,?41,?51,?61,?81），其被设计用于基于编码二进制值（v’）确定误差校正子比特序列（s(v“）)，其中误差校正子比特序列（s(v“)）表明，编码二进制字（v’）是否是用于对编码二进制字（v’）进行编码所使用的误差校正码（C）的码字；测试序列提供器（120），其被设计用于至少每当误差校正子比特序列（s(v“)）表明编码...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：U巴克豪森，M格塞尔，T克恩，T拉贝纳尔特，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：