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本发明涉及用于测试待测试电路的设备和方法。用于测试待测试电路的设备包括校正子确定器（110）、测试序列提供器（120）和分析电路（130）。校正子确定器（110）基于编码二进制字确定误差校正子比特序列。在此，误差校正子比特序列表明编码二进制...
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