整舱条件下的屏蔽方舱低频屏蔽效能测试与评价方法技术

本发明专利技术属于屏蔽方舱屏蔽效能测试技术领域，特别提出了一种整舱条件下的屏蔽方舱低频屏蔽效能测试与评价方法，其特征是：方舱被测通风波导窗（7）后有金属机柜（6），通风波导窗（7）与金属机柜（6）距离是L，发射天线（2）在屏蔽方舱（3）的外侧，发射天线（2）与屏蔽方舱（3）的距离是d1，接收天线（4）在屏蔽方舱（3）的内侧，接收天线（4）与屏蔽方舱（3）的距离是d2，发射天线（2）与信号发生器（1）电连接，接收天线（4）与接收机（5）电连接。确定整舱的测试屏蔽效能偏离空舱屏蔽效能的修正值公式，最终获取整舱的标准屏蔽效能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于屏蔽方舱屏蔽效能测试
，特别提出了一种。
技术介绍
近年来，屏蔽方舱以其良好的屏蔽性能，兼具其他类型方舱所具有的环境防护与密封性能、运输灵活的机动性能，而广泛应用于各类地面机动式电子系统、通信系统、医疗系统等。屏蔽方舱是由六块金属板通过导电连接，且对电磁波具有良好衰减的密闭矩形六面体腔体。对于屏蔽方舱最重要的性能即屏蔽效能而言，影响其的因素主要有方舱上的屏 蔽门、屏蔽观察窗、波导通风窗、壁板、信号转接板、各类滤波器及相关安装连接处的接缝等所产生的电磁泄漏。屏蔽效能测试是对屏蔽方舱各个泄漏因素在研制、生产以及使用等全寿命周期进行泄漏抑制质量的控制与监测的一个重要手段与方法。我国对屏蔽方舱屏蔽效能的测试，主要依据GB6785、GB12190、IEEE-299,MIL-STD-285等屏蔽效能测试标准，这些标准对测试频段、相对应的测试天线及测试距离均进行了严格的规定。但随着对屏蔽方舱实用性的要求，对屏蔽方舱屏蔽效能的测试，已由只对未安装设备的空舱测试，逐渐转向对已安装好订购方所规定的全部设备或设施的方舱即整舱的测试。显然如果整舱的空间能够满足标准的测试条件，就可以完全按照原有标准来进行测试和评价。但在实际测试中发现，某些整舱由于舱内安装的机柜、设备等，使得舱内空间受限，无法满足标准中规定的屏蔽效能测试时的收、发天线测试距离及天线距方舱壁面的距离要求。由电磁理论可知，舱内空间的变化意味着边界条件的变化,这将直接导致整舱的电磁场分布与电磁耦合状态有所变化，舱内天线所接收到的电磁场信号也会相应发生变化，这些变化将直接影响屏蔽效能的测试结果，造成同一台方舱在整舱条件下与空舱条件下屏蔽效能不同的结果。同时由于屏蔽方舱设计指标与测试标准中所规定的屏蔽效能均是针对空舱的，所以工程上将空舱屏蔽效能称为标准屏蔽效能。故为了获得屏蔽方舱统一的评价标准，就需要将整舱的测试结果转化为标准屏蔽效能(空舱屏蔽效能)结果。目前对于整舱的测试和评价，还没有标准的测试方法加以规定，缺乏具有理论依据的统一测试与评价方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对上述不满足标准测试条件的情况，分析上装设备后，在9KHz 20MHz频率范围内对适用于空舱的屏蔽效能测试方法的影响程度，并通过对其的修正，给出适用于。具体讲就是在整舱条件下，空舱上装设备后，使舱内空间不满足屏蔽效能标准测试方法中所规定的测试距离要求时，参考屏蔽效能标准测试方法中所规定的测试天线与测试距离，根据整舱条件下的空间，在确保原有频段测试天线不变的条件下，调整收、发间的测试距离(实测时，只改变舱内接收天线与被测部件的距离，不改变舱外接收天线与被测部件的距离)，采用电磁场理论及孔耦合理论，给出收、发天线测试距离及舱内天线距方舱壁面变化后的影响因素与理论公式，确定整舱的测试屏蔽效能偏离空舱屏蔽效能的修正值公式，最终获取整舱的标准屏蔽效能。本专利技术是这样实现的整舱条件下的方舱屏蔽效能测试与评价方法，其特征是屏蔽方舱被测通风波导窗7 (对于屏蔽门、信号转接板等被测件与部位同样适用)后有金属机柜6，通风波导窗7与金属机柜6距离是L，发射天线2在屏蔽方舱3的外部，发射天线2与屏蔽方舱3的距离是Cl1，接收天线4在屏蔽方舱3的内部，接收天线4与屏蔽方舱3的距离是d2，发射天线2与信号发生器I电连接，接收天线4与接收机5电连接。屏蔽方舱屏蔽效能分为三种状态· 标准测试状态(状态一)空舱状态下的屏蔽效能，即标准屏蔽效能SE1 ； 对比状态(状态二)由于实际测试状态涉及接收天线测试距离及距机柜的距离等两个因素，故为分析方便起见，设定仅改变接收天线测试距离且无机柜状态的整舱屏蔽效能为SE2 ； 实际测试状态(状态三)设定改变接收天线测试距离且接收天线后面带有机柜状态下的整舱实测屏蔽效能为se3。则在9KHz 20MHz频率范围内，标准屏蔽效能与整舱实测屏蔽效能之间的修正值为Δ F=SE1-SE3= Λ F1+ Λ F2(I)式中，Λ F为频段修正值，Δ F1为测试距离变化所造成的修正值，Δ F2为机柜反射所造成的修正值。具体的修正值为0.3+ Zyri.2 + 2 ■ Jk-Lu,,. + · ￡ Λ\·-γ p' κ A^=601g(-+ 20Ig---^~~—(Z)0.3 + 0.34,ri； 2 + 2-/1-0.3 + ^-0.32 e._式中:实测时，舱内接收天线距方舱壁面的距离(m)；k 电磁波在空气中的传播常数；Lws—空舱状态(即标准状态)测试时，舱内接收天线距壁面的距离为O. 3m。本专利技术的优点是本专利技术将整舱条件下的方舱屏蔽效能修正方法分为三种状态即标准屏蔽效能SE1、只改变舱内接收天线测试距离且接收天线后面没有机柜状态下的整舱屏蔽效能SE2、改变舱内接收天线测试距离且接收天线后面带有机柜状态下的整舱实测屏蔽效能SE3。通过模型分析和理论计算，获得整舱条件下电磁屏蔽效能测试结果的校准因子。则可在具体测试中，只对整舱进行屏蔽效能测试，再通过加入校准因子的方法，即可获取屏蔽方舱的标准屏蔽效能。附图说明图I是整舱状态下的屏蔽效能测试配置简图；图2是分析开孔方舱泄漏模型时的简易示意图；图3是三种屏蔽效能状态模型示意图；图4是测试状态三中的机柜影响分析示意图；图5是测试状态三中的接收天线处的叠加场示意图；图6是通风波导窗测试位置示意图；图7是方案I测试配置简图；图8是方案2测试配置简图；图中，I :信号发生器；2 :发射天线；3 :屏蔽方舱；4 :接收天线；5 :接收机；6 :金属机柜；a :第一测量点；b :第二测量点；c :第三测量点；d :第四测量点；e :第五测量点吨舱外发射天线距方舱壁面的距离；d2 :舱内接收天线距方舱壁面的距离；L :金属机柜到方舱壁面的距离。具体实施例方式图I给出了整舱屏蔽效能测试状态示意图，被测通风波导窗或屏蔽门、或信号转 接板等被测件7后有金属机柜6，通风波导窗7与金属机柜6距离是L，发射天线2在屏蔽方舱3的外部，发射天线2与屏蔽方舱3的距离是Cl1，接收天线4在屏蔽方舱3的内部，接收天线4与屏蔽方舱3的距离是d2，发射天线2与信号发生器I电连接，接收天线4与接收机5电连接。在图I的条件下，由于L的限制，致使d2有可能不满足标准所规定距离要求，即使满足标准距离要求，也由于机柜的反射作用，舱内天线所接收到的电磁场信号发生变化，这些变化将直接影响屏蔽效能的测试结果，因此也不满足空舱测试的要求。如图2所示，屏蔽效能分三种状态 标准测试状态(状态一)空舱状态下的屏蔽效能，即标准屏蔽效能SE1 ； 对比状态(状态二)由于实际测试状态涉及接收天线测试距离及距机柜的距离等两个因素，故为分析方便起见，设定仅改变接收天线测试距离且无机柜状态的整舱屏蔽效能为SE2 ； 实际测试状态(状态三)设定改变接收天线测试距离且接收天线后面带有机柜状态下的整舱实测屏蔽效能为SE3 ；由状态一和状态二可知测试距离发生变化后，接收点的场强必然发生变化，因此需要分析测试距离的变化对屏蔽效能的影响，即测试距离变化所造成的修正值Δ F1=SE1-SE2(5)由状态二和状态三可知当频率很高时，由于波长小于接收天线到机柜的距离，故机柜反射作用将对内部场强产生影响，因此需要分析机柜反射本文档来自技高网...

【技术保护点】
整舱条件下的屏蔽方舱低频屏蔽效能测试与评价方法，其特征是：方舱被测通风波导窗（7）后有金属机柜（6），通风波导窗（7）与金属机柜（6）距离是L，发射天线（2）在屏蔽方舱（3）的外侧，发射天线（2）与屏蔽方舱（3）的距离是d1，接收天线（4）在屏蔽方舱（3）的内侧，接收天线（4）与屏蔽方舱（3）的距离是d2，发射天线（2）与信号发生器（1）电连接，接收天线（4）与接收机（5）电连接；方舱屏蔽效能分三种状态，SE1为标准测试状态下的屏蔽效能、SE2为仅改变接收天线测试距离且无机柜状态的整舱屏蔽效能、SE3为改变接收天线测试距离且接收天线后面带有机柜状态下的整舱实测屏蔽效能；?则方舱被测通风波导窗（7）后有金属机柜（6）的修正值为：?△F=SE1?SE3=△F1+△F2△F1=SE1?SE2，?△F2=SE2?SE3△F为真实屏效与实测屏效之间的修正值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邱扬，田锦，许社教，孙建亮，
申请(专利权)人：西安开容电子技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：