【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种X射线KBA显微成像系统，尤其是涉及一种通过普通光学加工的光学棱镜块的X射线KBA显微成像系统，属于成像系统的装调领域。
技术介绍
激光惯性约束聚变(ICF)研究对国民经济、国家安全以及等离子体物理等基础研究探索有着重要而特殊的意义。内爆压缩区域的X射线成像诊断是激光ICF研究的一个重要领域。改进型KB(即KBA)显微成像系统是在毫米甚至厘米级视场内获得高空间分辨等离子体X射线图像的重要诊断手段。KBA显微成像系统的光学结构如图I所示，KBA显微成像系统的物镜组由正交放置依次排列的两组双反射镜构成，物镜Ml和物镜M2在子午方向上构成第一组双反射镜，物镜M3和物镜M4在弧矢方向上构成第二组双反射镜。单组双反射镜对X射线成像时存在严重的像散，仅能形成由“一个物点到一条焦线”的成像关系，而KBA结构通过两组正交放置的双反射镜分别在子午和弧矢方向上实现像散补偿，从而实现“一个物点到一个像点”的成像关系。·KBA系统为非共轴掠入射反射式结构，可见光衍射效应非常严重，加之同一组双反射镜的两块物镜在成像上相互制约，因此KBA系统装调无法通过可见光直接成像的方式完成，也无法利用常规光学装调手段精确标定四块物镜的位置和角度关系，所以KBA系统的装调必须基于X射线成像实验完成。首先完成KBA系统的物镜装配，然后通过X射线成像实验寻找到装配完成后KBA物镜的最佳成像点位置，最后利用与KBA物镜硬性连接的双路激光或模拟小球等辅助设备将该位置标记出来，以此实现KBA系统的装调。KBA系统的装调难度主要体现在KBA物镜装配上。KBA系统的物镜结构在子午和弧矢方向上...
【技术保护点】
一种X射线KBA显微成像系统，其特征在于，该系统包括物镜M1、物镜M2、物镜M3、物镜M4、光学棱镜块N1及光学棱镜块N2，其中在子午方向上的物镜M1和物镜M2的工作反射面顶靠在光学棱镜块N1具有夹角η1的两个相邻面T1面和T2面上，在弧矢方向上的物镜M3和物镜M4的工作反射面顶靠在光学棱镜块N2具有夹角η2的两个相邻面T3面和T4面上。
【技术特征摘要】
1.一种X射线KBA显微成像系统，其特征在于，该系统包括物镜Ml、物镜M2、物镜M3、物镜M4、光学棱镜块NI及光学棱镜块N2，其中在子午方向上的物镜Ml和物镜M2的工作反射面顶靠在光学棱镜块NI具有夹角Il1的两个相邻面T1面和T2面上，在弧矢方向上的物镜M3和物镜M4的工作反射面顶靠在光学棱镜块N2具有夹角η2的两个相邻面T3面和T4面上。2.根据权利要求I所述的一种X射线KBA显微成像系统，其特征在于，所述的夹角Ii1和η 2与KBA系统两组双反射镜夹角的理论设计值相同。3.根据权利要求I所述的一种X射线KBA显微成像系统，其特征在于，所述的光学棱镜块NI具有...
【专利技术属性】
技术研发人员：伊圣振，穆宝忠，王新，王占山，章逸舟，
申请(专利权)人：同济大学，
类型：发明
国别省市：
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