用于软场重构的系统和方法技术方案

提供一种用于软场重构的系统和方法。一种方法包括对于被激励对象使用多个换能器来获得施加的输入和测得的输出信息，并基于施加的输入和测得的输出信息形成导纳矩阵。该方法还包括使用导纳矩阵来确定多个矩，以及使用多个矩计算被激励对象的特性分布。

【技术实现步骤摘要】

本文中公开的主题一般涉及数据重构系统和方法，更具体地涉及特别是在多材料对象的软场重构中估计感兴趣区域的特性的系统和方法。
技术介绍
软场层析成像，诸如电阻抗层析成像(EIT)、扩散光层析成像、弹性图成像以及相关的方式，可以被用来测量对象的内部特性，例如包括对象内部结构的材料的电特性。例如，在EIT系统中，对内部结构的电导率的分布作出估计。这样的EIT系统基于在区域或体积表面或附近得到的施加的激励(例如电流)和测得的响应(例如电压)来重构区域或体积内的材料的电导率和/或电容率。然后可以形成估计值的可视分布。在软场层析成像中，传统的重构算法能够求出对象内的阻抗分布而无需使用任何·先前的信息。可是，这类重构过程由于收敛到某个解所需的迭代而在计算上是密集的。因而，用于这些传统算法的重构过程可能非常费时并且需要高速电子装置和处理器。因此，如果需要快速测量，例如对于多材料对象(比如通过管道的气体流)的实时可视化，传统重构算法表现不令人满意。再者，传统重构算法不能适应对象的真实阻抗分布中的高反差。
技术实现思路
根据一个实施方式，提供一种用于软场层析成像重构的方法。该方法包括对被激励对象使用多个换能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于软场层析成像重构的方法，所述方法包括：对于被激励对象使用多个换能器来获得施加的输入和测得的输出信息；基于所述施加的输入和测得的输出信息来形成导纳矩阵；使用所述导纳矩阵来确定多个矩；以及使用所述多个矩来计算所述被激励对象的特性分布。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：R·V·V·L·兰戈朱，W·巴苏，M·库马科伊蒂塔米塔尔，S·马哈林加姆，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：