衰耗冗余控制器的防干扰测试孔制造技术

技术编号:8359428 阅读:530 留言:0更新日期:2013-02-22 07:17
本实用新型专利技术提供一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔,所要解决的技术问题是:目前的衰耗冗余控制器面板上设测试孔,测试孔外端距面板外表面为a=1mm左右。在衰耗冗余控制器进行静电放电试验时,干扰信号常常通过测试孔进入衰耗冗余控制器中。本实用新型专利技术的要点是:测试孔外端距面板外表面为3.5-5mm。本实用新型专利技术的积极效果是:大大提高了衰耗冗余控制器的抗干扰能力。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及铁路信号系统,具体说是无绝缘移频自动闭塞系统中的衰耗冗余控制器。
技术介绍
目前,衰耗冗余控制器面板11上设测试孔12,为方便测试数据,测试孔外端距面板外表面为a=lmm左右,即测试孔向面板方向凹进Imm左右(参见图I)。在衰耗冗余控制器进行静电放电试验时(接触放电6000V,空气放电8000V),干扰信号常常通过测试孔进入衰耗冗余控制器中,影响系统信号的正常传输,使接收器存在闪红式死机及损坏的情况。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本技术的目的是提供一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔。本技术的目的是这样实现的面板上设测试孔,其特征是测试孔外端距面板外表面为3. 5-5_。这样它增加了爬电距离,能够使衰耗冗余控制器在静电放电试验中抗住干扰信号。同时,又能够满足测试仪表的表笔与测试孔有效地接触(一般表笔笔尖为10—15mm),得到真实的测试数据。与现有技术相比,本技术的积极效果是大大提高了衰耗冗余控制器的抗干扰能力。附图说明图I是现有的衰耗冗余控制器的测试孔的剖视图。图2是本技术的结构示意图(局部剖)。具体实施方式面板I上设测试孔2,所说的测试孔外端距面板外表面为b=3. 5mm。这样它增加了爬电距离,能够使衰耗冗余控制器在静电放电试验中抗住干扰信号。同时,又能够满足测试仪表的表笔与测试孔有效地接触(一般表笔笔尖为10 — 15mm),得到真实的测试数据。权利要求1.一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔,面板上设测试孔,其特征是测试孔外端距面板外表面为3. 5_5mm。专利摘要本技术提供一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔,所要解决的技术问题是目前的衰耗冗余控制器面板上设测试孔,测试孔外端距面板外表面为a=1mm左右。在衰耗冗余控制器进行静电放电试验时,干扰信号常常通过测试孔进入衰耗冗余控制器中。本技术的要点是测试孔外端距面板外表面为3.5-5mm。本技术的积极效果是大大提高了衰耗冗余控制器的抗干扰能力。文档编号G05B9/03GK202748614SQ20122027655公开日2013年2月20日 申请日期2012年6月13日 优先权日2012年6月13日专利技术者吕树远, 王进忠, 王洋, 贾敏捷, 王润隆, 杨力, 胡军鹤, 于智博, 周海涛, 刘嘉 申请人:沈阳铁路信号有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔,面板上设测试孔,其特征是:测试孔外端距面板外表面为3.5?5mm。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吕树远王进忠王洋贾敏捷王润隆杨力胡军鹤于智博周海涛刘嘉
申请(专利权)人:沈阳铁路信号有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:

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