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衰耗冗余控制器的防干扰测试孔制造技术
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下载衰耗冗余控制器的防干扰测试孔的技术资料
文档序号:8359428
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本实用新型提供一种衰耗冗余控制器的防干扰测试孔,所要解决的技术问题是:目前的衰耗冗余控制器面板上设测试孔,测试孔外端距面板外表面为a=1mm左右。在衰耗冗余控制器进行静电放电试验时,干扰信号常常通过测试孔进入衰耗冗余控制器中。本实用新型的要...
该专利属于沈阳铁路信号有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过沈阳铁路信号有限责任公司授权不得商用。
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