一种环境岩体非接触测量装置制造方法及图纸

技术编号:8358819 阅读:167 留言:0更新日期:2013-02-22 06:36
本实用新型专利技术公开了一种环境岩体非接触测量装置,其特征在于包括:作为收敛位移两个测点的反光片和激光仪定位装置;激光仪定位装置包括支座,通过定位螺栓固定在支座上的激光测距器夹持架,激光测距器夹持架同支座接触面上设有锁紧螺栓,在支座上同锁紧螺栓移动轨迹相对应的位置设有弧形滑槽;激光测距器夹持架上设有用于放置激光测距器的直角挡槽。该装置通过支座本体与激光夹持架的配合安装,可以灵活地调整激光测距器的角度,通过支座上标记画痕,对激光测距器定位,解决激光测距器的定位不准的问题。激光测距器与激光夹持架分开,使整个监测过程采用一台便携的激光测距器即可满足要求,具有结构简单和成本低廉的特点。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种非接触测量大断面地下工程变形的装置,尤其涉及一种环境岩体非接触测量装置
技术介绍
我国地下工程的建设方兴未艾,由于地下工程的复杂性和非确定性,新奥法、信息化施工为代表的反馈分析方法已经成为隧道建设的主要理念,其核心是通过围岩监测位移来反分析参数并控制围岩稳定性。在监测项目中,洞周收敛数据能够反映围岩综合变化信息,是最受到人们重视的关键测项之一。传统的围岩收敛监测方法采用收敛仪,方便易行,但是对于洞室尺寸有一定限制。随着基础建设的增加,涌现出越来越多的大断面地下工程结构,传统的围岩收敛计很难操作和实施。如果采用昂贵的全站仪监测方法,则存在搬动和操作复杂的局限性,很难满足要求天天进行的地下工程常规监测要求。如何进行大断面地下空间日常监测并进行快速的反馈分析已经成为影响大断面隧道信息化施工能否正常进行的重要问题。
技术实现思路
本技术针对以上问题的提出,而研制一种环境岩体非接触测量装置。本技术采用的技术方案如下一种环境岩体非接触测量装置,其特征在于包括作为收敛位移两个测点的反光片和激光仪定位装置;所述激光仪定位装置设置在围岩侧墙或者基坑附近平地上,所述反光片设置在围岩侧墙或者本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种环境岩体非接触测量装置,其特征在于包括:作为收敛位移两个测点的反光片(1)和激光仪定位装置(2);所述激光仪定位装置(2)设置在围岩侧墙或者基坑附近平地上,所述反光片(1)设置在围岩侧墙或者基坑侧壁上;所述激光仪定位装置(2)包括:通过膨胀螺栓(24)固定在围岩侧墙或者基坑附近平地上的支座(21);通过定位螺栓(23)固定在支座(21)上的激光测距器夹持架(22),所述激光测距器夹持架(22)能够绕定位螺栓(23)自由旋转;所述激光测距器夹持架(22)同支座(21)接触面上设有锁紧螺栓(26),在支座(21)上同锁紧螺栓(26)移动轨迹相对应的位置设有弧形滑槽;所述激光测距器夹持架(22)...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘丽波公维民姜谙男
申请(专利权)人:大连海事大学
类型:实用新型
国别省市:

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