一种磁共振并行成像方法及磁共振成像仪技术

本发明专利技术涉及磁共振成像技术领域，提供了一种磁共振并行成像方法，所述方法中对磁共振并行成像问题的求解包括三部分：传统并行成像部分、低秩约束部分和稀疏约束部分。本发明专利技术还提供了一种磁共振成像仪，所述磁共振成像仪采用前述的磁共振并行成像方法进行成像。本发明专利技术提出的基于稀疏约束和低秩约束的磁共振并行成像方法，在传统单一的磁共振并行成像方法基础之上，同时利用目标信号的稀疏性和低秩性，进一步约束并行成像问题的解空间，减少采样点的个数，在保证重建图像质量的同时提高成像速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及磁共振成像
，特别是涉及一种磁共振并行成像方法及磁共振成像仪。
技术介绍
快速磁共振成像方法大致可以分为三类快速扫描成像、并行成像 (parallelimaging)以及K空间稀疏采样成像。其中，并行成像已广泛应用于临床磁共振成像中。并行成像方法通过多通道相控阵列线圈同时采集数据，利用接收线圈不同的敏感度将空间质子密度信息编码到采样数据中，以减少成像所需要的相位编码个数， 加快成像速度。并行成像技术主要分为两类一类是显性运用线圈敏感度的方法，如 SENSE (Sensitivity Encoding for Fast MRI,敏感度编码)等；一类是利用多通道K空间数据相关性的方法，如 GRAPPA(Generalizedautocalibrating partially parallel acquisitions,全局自动校准部分并行米集)、SPIRiT (Self-consistent parallel imaging reconstruction,白洽并行成像)等。第一类方法需要预先估计线圈敏感度函数, 这在某些具体应用场合是无法得到的。第二类方法假设多通道本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁共振并行成像方法，其特征在于，所述方法中对磁共振并行成像问题的求解包括三部分：传统并行成像部分、低秩约束部分和稀疏约束部分。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：梁栋，彭玺，刘新，郑海荣，
申请(专利权)人：中国科学院深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：