本发明专利技术本公开一种用于MIPI接口的液晶显示屏的测试系统，其包括DC-DC电源模块、程序下载模块、数据存储模块、显示屏模块、控制按键模块、双向数据缓冲模块、ARM9核心电路模块、MIPI桥接转换模块和测试主机输出接口，其中，DC-DC电源模块分别连接至控制按键模块和测试主机输出接口，ARM9核心电路模块分别与程序下载模块、控制按键模块和双向数据缓冲模块相连接，数据存储模块分别与程序下载模块和显示屏模块相连接，显示屏模块进一步和控制按键模块相连接，MIPI桥接转换模块分别与双向数据缓冲模块和测试主机输出接口相连接。本发明专利技术的测试系统可对具有MIPI接口的液晶显示屏进行通用的功能测试，具有较大的通用性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示器领域，尤其涉及一种用于具有MIPI接口的液晶显示屏的测试系统。
技术介绍
随着智能手机的逐步发展壮大，以前中低端液晶显示屏已经不能满足用户对显示屏显示海量数据的需求，越来越多的手机运行商把投资目光转移到高端液晶显示屏。应此要求,一种新型的通讯接口方式MIPI (Mobile Industry Processor Interface,移动行业处理器接口)应运而生。移动行业处理器接口(MIPI)联盟由ARM、诺基亚、意法半导体和德州仪器发起成立。作为移动行业领导者的合作组织，MIPI联盟旨在确定并推动移动应用处理器接口的开放性标准。借助于这些开放性标准，MIPI联盟可为移动应用处理器的标准硬件和软件界面确立规范，在整个行业价值链中鼓励开放性标准的采用，从而加速向移动用户推广新服务的进程。因此，新的高端液晶显示屏大都具有MIPI接口。鉴于此，需要对具有MIPI接口的液晶显示屏提出了一种全新的测试方案，需要完整，完善地测试出产品本身的功能缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种对具有MIPI接口的液晶显示器进行测试的测试系统。为解决本专利技术的技术问题，本专利技术本公开一种用于MIPI接口的液晶显示屏的测试系统，其包括DC-DC电源模块、程序下载模块、数据存储模块、显示屏模块、控制按键模块、双向数据缓冲模块、ARM9核心电路模块、MIPI桥接转换模块和测试主机输出接口，其中，DC-DC电源模块分别连接至控制按键模块和测试主机输出接口，ARM9核心电路模块分别与程序下载模块、控制按键模块和双向数据缓冲模块相连接，数据存储模块分别与程序下载模块和显示屏模块相连接，显示屏模块进一步和控制按键模块相连接，MIPI桥接转换模块分别与双向数据缓冲模块和测试主机输出接口相连接。其中，测试主机输出接口进一步连接至待测的具有MIPI接口的液晶显示模块。其中，数据存储模块采用三星的NAND FLASH芯片K9F1208U0C。其中，控制按键模块包换复位按键和多个程序选择按键。其中，双向数据缓冲模块采用芯片74ALVC164245。其中，ARM9核心电路模块采用三星的S3C2410作为主控芯片。其中，其特征在于，ARM9核心电路模块采用12MHZ无源晶振。其中，其特征在于，MIPI桥接转换模块采用台湾厂商SOLOMON的芯片SSD2825。其中，其特征在于，测试主机输出接口采用40PIN接口定义。与现有技术相比较，本专利技术的测试系统能对具有MIPI接口的液晶显示屏进行通用的功能测试，具有具有较大的通用性。附图说明图I是本专利技术的用于具有MIPI接口的液晶显示器的测试系统的示意图。具体实施例方式如图I所示，本专利技术的用于具有MIPI接口的液晶显示器的测试系统包括DC-DC电源模块、程序下载模块、数据存储模块、显示屏模块、控制按键模块、双向数据缓冲模块、ARM9核心电路模块、MIPI桥接转换模块和测试主机输出接口。其中，DC-DC电源模块分别连接至控制按键模块和测试主机输出接口 ；ARM9核心电路模块分别与程序下载模块、控制按键模块和双向数据缓冲模块相连接；数据存储模块分别与程序下载模块和显示屏模块相连接；显示屏模块进一步和控制按键模块相连接；MIPI桥接转换模块分别与双向数据缓冲模块和测试主机输出接口相连接；测试主机输出接口进一步连接至待测的具有MIPI接口的液晶显不|旲块。DC-DC电源模块用于对直流电源进行转换，提供多种不同电压的直流电源以供各模块使用。程序下载模块用于下载测试程序。数据存储模块主要使用三星NAND FLASH芯片K9F1208U0C作为系统存储芯片，用于存储测试程序，图片数据。显示屏模块采用分辨率为320*240的液晶显示屏，主要用于人机交流，用于选择测试程序使用。控制按键模块主要包换复位按键SI和程序选择按键S2、程序选择按键S3和程序选择按键S4 ;复位按键SI通过复位芯片MAX708实现复位功能。双向数据缓冲模块采用芯片74ALVC164245(PHILIPS)，其用于对显示RGB信号进行3. 3V到I. 8V的电平转换，同时由ARM9核心电路模块控制完成数据接口双向通信功能，即可以实现读和写的功能。ARM9核心电路模块采用三星的S3C2410作为主控芯片，实现整个系统的运行和控制，其不断地从数据存储模块中读取程序数据到内存来保持整个系统正常运作。ARM9核心电路模块采用12MHZ无源晶振，系统最高频率可以达到200HZ，并可以通过寄存器设置来针对不同尺寸规格液晶显示屏的调节各种时钟的数值。MIPI桥接转换模块采用台湾厂商SOLOMON提供的芯片SSD2825来实现RGB数据信号和控制信号的转换，把相关的数据转换成为MIPI协议可以识别的数据，送往IXD驱动器(DRIVER)。测试主机输出接口采用40PIN 接口定义，可以满足量产使用，便于使用。本专利技术的用于具有MIPI接口的液晶显示器的测试系统主要采用三星的ARM9核心芯片S3C2410作为主控芯片，实现对整个测试系统的控制，把测试图片数据通过人机交换界面的控制输入，并通过MIPI桥接转换芯片把测试图片数据转换成遵循MIPI协议的高速MIPI数据信号，高速MIPI数据信号经过MIPI通道到达液晶显示模块的驱动器，液晶显示模块的驱动器在接收到MIPI信号后，经过自身解码还原动作，控制液晶显示屏实现片数据的显示功能，从而实现对液晶显示模块的测试。与现有技术相比较，本专利技术可实现液晶显示屏行业MIPI接口产品通用功能测试，具有较大的通用性，可以支持多达4通道信号通信，单通道数据速率最高可以达到2. 4 Gbpso以上内容是结合具体的优选实施方式对本专利技术所作的进一步详细说明，不能认定本专利技术的具体实施只局限于这些说明。对于本专利技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本专利技术的保护 范围。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于MIPI接口的液晶显示屏的测试系统，其特征在于包括DC？DC电源模块、程序下载模块、数据存储模块、显示屏模块、控制按键模块、双向数据缓冲模块、ARM9核心电路模块、MIPI桥接转换模块和测试主机输出接口，其中，DC？DC电源模块分别连接至控制按键模块和测试主机输出接口，ARM9核心电路模块分别与程序下载模块、控制按键模块和双向数据缓冲模块相连接，数据存储模块分别与程序下载模块和显示屏模块相连接，显示屏模块进一步和控制按键模块相连接，MIPI桥接转换模块分别与双向数据缓冲模块和测试主机输出接口相连接。
【技术特征摘要】
1.一种用于MIPI接口的液晶显示屏的测试系统，其特征在于包括DC-DC电源模块、程序下载模块、数据存储模块、显示屏模块、控制按键模块、双向数据缓冲模块、ARM9核心电路模块、MIPI桥接转换模块和测试主机输出接口，其中，DC-DC电源模块分别连接至控制按键模块和测试主机输出接口，ARM9核心电路模块分别与程序下载模块、控制按键模块和双向数据缓冲模块相连接，数据存储模块分别与程序下载模块和显示屏模块相连接，显示屏模块进一步和控制按键模块相连接，MIPI桥接转换模块分别与双向数据缓冲模块和测试主机输出接口相连接。2.根据权利要求I所述的测试系统，其特征在于，测试主机输出接口进一步连接至待测的具有MIPI接口的液晶显示模块。3.根据权利要求I所述的测试系统，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：颜和平，张木平，彭夏春，
申请(专利权)人：深圳市立德通讯器材有限公司，
类型：发明
国别省市：
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