【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学偏振特性测量
，特别涉及通过对由于双折射色散引起串扰点包络宽度线性展宽进行补偿修正，实现对双折射光学材料及仪器中偏振串扰点的测量。
技术介绍
对于各种不同的光学装置、系统及应用中，光偏振特性是光信号一个相当重要的物理参量。由于在不同折射率的媒介中光信号以不同的偏振态进行传输，因此不同双折射的光学媒介又会改变或者影响光信号的偏振态。例如，光纤本身具有双折射效应，因此在其中传播的光偏振态会发生改变。光纤中的双折射通常会随时间而变化，也会随着其工作环 境一如压力或者温度的变化而随机变化。保偏光纤就是一种具有光学双折射材料的例子，它具有很高的双折射特性，从而保证其内部两个独立的偏振模传输态一HEslow11和HEfast11,即光仅沿着保偏光纤偏振态相互垂直的快轴和慢轴传播。在保偏光纤中，沿慢轴HEslw11的偏振光折射率要比沿快轴HEfast11模态偏振光折射率高。当线偏振光偏振方向与慢轴方向一致被I禹合进入保偏光纤，此时，只有HEslm11模态的偏振光被激发，传输光的偏振态将保持慢轴偏振光特性；相反，当线偏振光偏振方向与快轴方向一致被I禹合进...
【技术保护点】
一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1）将宽带光源输出的线性偏振光耦合入一具有保持传输光两正交偏振模的功能的光学双折射媒介中，并在该光学双折射媒介中产生一光信号；2）将该光信号接入一干涉仪，获取两正交偏振模间光干涉信号；3）对所获取的光干涉信号进行处理，获得光学双折射媒介中含有双折射色散影响的两正交偏振模间偏振串扰点的包络谱函数；4）基于对步骤3）获得的含有双折射色散影响的包络谱函数测量，得出光学媒介中的双折射色散参数，基于该双折射色散参数求得包络宽度展宽补偿函数，利用该包络宽度展宽补偿函数对该含有双折射色散影响的包络谱函数的展宽进行...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：姚晓天，李志宏，
申请(专利权)人：苏州光环科技有限公司，通用光讯光电技术北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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