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本发明涉及一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法和装置，该方法包括：将线性偏振光耦合入光学双折射媒介中，并在其中产生一光信号；将该光信号接入一干涉仪，获取两正交偏振模间光干涉信号；对所获取的光干涉信号进行处理，获得含有双折射色散影响的光...该专利属于苏州光环科技有限公司;通用光讯光电技术（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州光环科技有限公司;通用光讯光电技术（北京）有限公司授权不得商用。