【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种新型烧录器。
技术介绍
在芯片生产过程中，生产流程极其复杂，由于人为以及工艺本身的影响，芯片在生产过程中不可避免地会出现不良品，而不良品的出现则要求芯片在出厂时进行测试。目前，芯片的测试设备比较昂贵，只有大型公司才具有这样的设备，另外，测试芯片会延长芯片的发货时间以及提高生产成本，因此大部分公司使用的是选择性测试，经常忽略芯片的功能测试，导致具有功能缺陷的芯片流入其他产品的生产流程，从而提高其它产品的不良率，增加成本
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能便捷地对目标芯片进行测试，提高目标芯片良品率，降低生产成本的新型烧录器。本技术所采用的技术方案是本技术包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测结果存储到目标芯片存储单...
【技术保护点】
一种新型烧录器，包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，其特征在于：还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测结果存储到目标芯片存储单元，所述主控芯片电路与所述目标芯片存储单元之间进行通信。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：苏龙健，郑灼荣，李务柒，
申请(专利权)人：建荣集成电路科技珠海有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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