一种新型烧录器制造技术

本实用新型专利技术提供了一种能便捷地对目标芯片进行测试，提高目标芯片良品率，降低生产成本的新型烧录器。本实用新型专利技术包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测结果存储到目标芯片存储单元，所述主控芯片电路与所述目标芯片存储单元之间进行通信。本实用新型专利技术可应用于芯片制作领域。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种新型烧录器。
技术介绍
在芯片生产过程中，生产流程极其复杂，由于人为以及工艺本身的影响，芯片在生产过程中不可避免地会出现不良品，而不良品的出现则要求芯片在出厂时进行测试。目前，芯片的测试设备比较昂贵，只有大型公司才具有这样的设备，另外，测试芯片会延长芯片的发货时间以及提高生产成本，因此大部分公司使用的是选择性测试，经常忽略芯片的功能测试，导致具有功能缺陷的芯片流入其他产品的生产流程，从而提高其它产品的不良率，增加成本
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能便捷地对目标芯片进行测试，提高目标芯片良品率，降低生产成本的新型烧录器。本技术所采用的技术方案是本技术包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测结果存储到目标芯片存储单元，所述主控芯片电路与所述目标芯片存储单元之间进行通信。所述目标芯片功能检测电路包括外围检测电路和功能测试模块。所述目标芯片功能检测电路对目标芯片检测的项目包括目标芯片的IO 口是否短/断路、芯片外设的功能及芯片内存存储器的状态。所述主控芯片电路与所述芯片存储单元的通信方式包括串口通信、SPI通信、USB通信或I2C通信。所述芯片外设包括模/数转换器、数/模转换器和USB 口。所述芯片内存存储器包括eprom、ram及flash。外围检测电路和功能测试模块的IO 口之间两两相连。本技术的有益效果是由于本技术包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测结果存储到目标芯片存储单元，所述主控芯片电路与所述目标芯片存储单元之间进行通信，所以，本技术除具有烧录芯片的一般功能，如空片检测，烧录以及数据校验等功能外，还增加了烧录器对目标芯片进行功能检测的电路，该电路实现了如何检测芯片功能、传送检测结果，采用本新型烧录器，可降低目标芯片的测试成本以及芯片不良导致的其它成本，提高发货速度。附图说明图I是本技术的简易结构连接框图。具体实施方式如图I所示，本实施例中，本技术包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接。还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接。所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测 结果存储到目标存储单元，所述主控芯片电路与所述目标芯片存储单元之间进行通信。目标芯片把检测结果发送给所述主控芯片电路。所述目标芯片功能检测电路包括外围检测电路和功能测试模块。所述目标芯片功能检测电路对目标芯片检测的项目包括目标芯片的IO 口是否短/断路、芯片外设的功能及芯片内存存储器的状态。所述芯片外设包括模/数转换器、数/模转换器和USB 口。所述芯片内存存储器包括eprom、ram及flash。所述主控芯片电路与所述芯片存储单元的通信方式包括串口通信、SPI通信、USB通信或I2C通信。外围检测电路和功能测试模块的IO口之间两两相连，包括直接连接或者通过其它元器件间接相连。所述外部通信接口为串口、SPI、USB或I2C总线接口。所述芯片检测功能，可检测芯片的IO 口是否开路、短路，检测芯片外设，如ADC、DAC、USB等是否正常；检测芯片内存存储器，如eprom、ram、flash等是否正常。在IO 口检测时，通过IO反转的方式输出高低电平，测得每一组的开短路状态，并存储；在检测芯片外设时，通过芯片本身硬件和外围电路搭配测试自身芯片外设，并存储。所述主控芯片电路用于控制整个烧录器的工作过程；所述空片检测电路用于检测所述目标芯片插座是否插入有芯片；所述烧录电路实现目标芯片的烧录；所述外部通信接口实现所述主控芯片电路与目标芯片之间的通信。本技术在进行烧录时，主要包括以下步骤(1)主控芯片电路进行IO初始化；(2)芯片功能检测；(3)芯片电压检测；(4)空片检测；(5)烧录芯片；(6)数据校验。所述主控芯片电路通过与所述目标芯片进行通信，读取预先存入所述存储单元内的测试程序，并将该测试程序灌入目标芯片，所述主控芯片电路根据芯片调试协议，使目标芯片的测试程序运行，使其自动检测10，DAC, ADC, USB等外部设备以及存储空间的功能是否正常。所述主控芯片电路把测量得到的值存入所述存储单元。所述主控芯片电路通过所述测量的值，判断目标芯片功能是否正常。本技术可应用于芯片制作领域。权利要求1.一种新型烧录器，包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，其特征在于还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测结果存储到目标芯片存储单元，所述主控芯片电路与所述目标芯片存储单元之间进行通信。2.根据权利要求I所述的一种新型烧录器，其特征在于所述目标芯片功能检测电路包括外围检测电路和功能测试模块。3.根据权利要求I所述的一种新型烧录器，其特征在于所述目标芯片功能检测电路对目标芯片检测的项目包括目标芯片的IO 口是否短/断路、芯片外设的功能及芯片内存存储器的状态。4.根据权利要求I所述的一种新型烧录器，其特征在于所述主控芯片电路与所述芯片存储单元的通信方式包括串口通信、SPI通信、USB通信或I2C通信。5.根据权利要求3所述的一种新型烧录器，其特征在于所述芯片外设包括模/数转换器、数/模转换器和USB 口。6.根据权利要求3所述的一种新型烧录器，其特征在于所述芯片内存存储器包括eprom、ram 及 flash。7.根据权利要求2所述的一种新型烧录器，其特征在于外围检测电路和功能测试模块的IO 口之间两两相连。专利摘要本技术提供了一种能便捷地对目标芯片进行测试，提高目标芯片良品率，降低生产成本的新型烧录器。本技术包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型烧录器，包括主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口和目标芯片插座，所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述外部通信接口和所述目标芯片插座均与所述主控芯片电路电连接，其特征在于：还包括目标芯片功能检测电路，所述目标芯片功能检测电路与所述主控芯片电路电连接，所述目标芯片功能检测电路对插入所述目标芯片插座内的目标芯片进行功能检测并把检测结果存储到目标芯片存储单元，所述主控芯片电路与所述目标芯片存储单元之间进行通信。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：苏龙健，郑灼荣，李务柒，
申请(专利权)人：建荣集成电路科技珠海有限公司，
类型：实用新型
国别省市：