三维高精度全自动超高频段雷达天线近场测试闭环控制系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种三维高精度全自动超高频段雷达天线近场测试闭环控制系统，包括上位机、PLC控制器、伺服驱动器、X、Z轴伺服电机、连轴器、X、Z轴光栅尺、X轴滚珠丝杆和单轴机器人；上位机通过通信网络与PLC控制器相连，PLC控制器的输出与伺服驱动器相连，伺服驱动器的一路输出依次与X轴伺服电机、连轴器、X轴滚珠丝杆、X轴光栅尺连接；伺服驱动器的另一路输出依次与Z轴伺服电机、单轴机器人、Z轴光栅尺连接；X、Z轴光栅尺的输出分别与PLC控制器相连。本实用新型专利技术既可以用手操盒进行快速移动控制，也可以通过上位机软件进行实时精确控制，方便测试采集坐标数据；可扩展性强，有利于根据实际测试需要进行后续开发。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术设计一种闭环控制系统，特别是涉及一种三维高精度全自动超高频段雷达天线近场测试闭环控制系统。技术背景 天线近场测试由于在微波暗室中进行，其精度高、效率高、成本低，在天线测试中应用越来越广泛。整个天线近场测试系统主要包括机械结构和控制系统两部分。目前国内研究天线近场测试平台的单位主要是一些高校和研究所，如西安电子科技大学、北京航空航天大学及中电14所，他们的产品定位平面度可达O. 08_左右，通过激光跟踪仪辅助和控制系统的优化最高可以达到O. 04mm。但大多采用塔基式结构，体积庞大、集成化程度不高、结构复杂、不便贴吸波材料以降低测试平台散射对测试结果的影响，一般只适合大型雷达天线测试。而且他们的产品一般只是探头定位系统(又可称作扫描架或取样架)，没有将天线定位系统和探头定位系统集成到一个平台上。传统的天线近场测试控制系统，基本上采用以直流伺服电机作为驱动元件，测速机及角编码器作为负载测量和反馈元件的回路控制闭环设计。但对于今天较大型的近场天线测试系统，由于机械制造所带来的大尺隙误差，将会使控制系统在闭环调节过程中发生震荡现象，从而影响系统的稳定性。由信号正向通路和反馈通路构本文档来自技高网...

【技术保护点】
三维高精度全自动超高频段雷达天线近场测试闭环控制系统，其特征在于：它包括上位机、PLC控制器、伺服驱动器、X、Z轴伺服电机、联轴器、X、Z轴光栅尺、X轴滚珠丝杆、和单轴机器人；上位机通过通信网络与PLC控制器相连，PLC控制器的输出与伺服驱动器相连，伺服驱动器的一路输出依次与X轴伺服电机、连轴器、X轴滚珠丝杆、X轴光栅尺连接；伺服驱动器的另一路输出依次与Z轴伺服电机、单轴机器人、Z轴光栅尺连接；X轴光栅尺和Z轴光栅尺的输出分别与PLC控制器相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李明全，高洋，朱彦，王云飞，靳广成，张休玉，邵昆林，
申请(专利权)人：成都锦江电子系统工程有限公司，
类型：实用新型
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