本发明专利技术实施例提供一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置，包括：获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数；根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表；选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点，实施本发明专利技术实施例，实现了选取较少的试验点来完成试验，减少试验点的选取个数，节约了试验资源，优化了试验设计。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及超材料领域，具体涉及一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置。
技术介绍
随着超材料技术的发展，人工电磁材料结构单元电磁特性的描述对人工电磁材料自动化设计起着至关重要的作用，测量人工电磁材料结构单元的电磁特性是人工电磁材料设计过程中的一个重要环节，人工电磁材料的形状和大小会影响其电磁特性，因此，在测量人工电磁材料单元的电磁特性的过程中需要选取大量的试验点进行试验。目前，人工材料单元的试验点选取方法为例如对一种“工”型拓扑结构的超材料·单元进行试验，定义的几何参数为G向量，假设参数&，b，和w三参数的取值范围分别为，，，且各几何参数对应的采样样本点个数为4，3和2。按照正交试验设计原理获得正交表如下表I所示 序号 a b w 1—1I O. I 2—1I 0. 2 3—12 O. I 4—12 0.2 5—13 O. I 6—13 0.2 7— 2 I O. I 8— 2 I 0.2 9— 2 2 O. I 10—2 2 0.2 11—23 O. I 12—23 0.2 13—3I O. I 14—3I 0.2 15—32 O. I 16 — 3 2 0.2 17—3 3 O. I 18 — 3 3 0.2 19—4I O. I 20—4I 0.2 21—42 O. I 22—4 2 0.2 23—43 O. I 24 I 4 I 3 I 0.2表I在对现有技术的研究和实践过程中，本专利技术的专利技术人发现，现有的人工电磁材料结构单元的试验点选取方法如果运用到多个参数并且多个参数的釆样样本点数目较多时，则要选取大量的试验点。过多的试验点会消耗大量的资源。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，包括获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数；根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表；选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。一种人工电磁材料单元的试验点选取装置，其特征在于，包括相应地，本专利技术还提供一种人工电磁材料单元的试验点选取装置，包括·数据获取模块，用于获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数；列表构造模块，用于根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表；数据选取模块，用于选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。本专利技术实施例通过获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数；根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表；选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。实现了选取较少的试验点来完成试验，减少试验点的选取个数，节约了试验资源，优化了试验设计。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I是本专利技术第一实施例提供的人工电磁材料单元的试验点选取方法的流程图；图2是本专利技术第二实施例提供的人工电磁材料单元的试验点选取方法的流程图；图3是本专利技术第三实施例提供的人工电磁材料单元的试验点选取装置的结构示意图。具体实施例方式本专利技术实施例提供一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置。以下分别进行详细说明。本专利技术实施例一的一种人工电磁材料单元的试验点选取方法的流程图可参考图I，该方法包括步骤101,获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数。几何参数可以是表示人工电磁材料几何形状和尺寸的一组参数描述，每个参数都对应多个取值水平。例如一种“工”型拓扑结构的人工电磁材料单元，它的几何参数定义为一个向量G = ，a，b和w三个的取值范围分别为, , ，那这三个几何参数对应的采样样本点个数分别为4，3和2。步骤102，根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点(Good latticepoint)法构造均勻设计表。假设，我们需要做η次电磁仿真实验，其中η为各参数对应的采样样本点个数的最小公倍数。找到比η小的正整数h，且使η和h成互质关系。把符合这些要求的正整数组成一个向量h,h= Qvh2, Λ，hm),其中m由欧拉函数炉(《)决定。运用同余运算，生成均匀设计表的第j列，如下公式所示Uij = ihj 当ihj大于η时，我们用它减去η的一个适当倍数，使其差值落在之中。Uij可以由以下公式递推生成 Ulj = hj\uu +Hi 若Uii +hf <nuMj = I其中 i = l，A，n_l[Uij + hj -n 右Uij +hj > n步骤103,选取所述均勻设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。例如定义材料结构中拥有的几何参数总数量为s(s小于或等于均与表的总列数)，我们从均匀设计表中任意选出s列组成一个新矩阵表格Dn，Dn中每一个列元素为{l，...，n}的一个置换。将原均匀设计表中uu的值转变成xy. =2^，将由所组成的 ; In矩阵定义为Xu= (Xij)。我们将Xu的η个行看做为抽样立体空间Cs上的η个点，因此Xu可以看作为Cs上的点集。由Xu决定的η个点不一定散布均匀在立体空间Cs上的，我们的任务就是在其中找一个最均匀的，来制作相应的实验设计表。本专利技术实施例通过获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数；根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表；选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。实现了选取较少的试验点来完成试验，减少试验点的选取个数，节约了试验资源，优化了试验设计。本专利技术实施例二的一种人工电磁材料单元的试验点选取方法的流程图可参考图2，实施例二相比实施例一的方法更加优化，该方法具体包括…步骤201，获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数。几何参数是表示人工电磁材料几何形状和尺寸的一组参数描述,每个参数都对应多个取值水平。例如一种“工”型拓扑结构的人工电磁材料单元，它的几何参数定义为一个向量G = ，a，b和w三个的取值范围分别为, , ，那这三个几何参数对应的采样样本点个数分别为4，3和2。步骤202，根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表。假设我们需要做η次电磁仿真实验，其中η为各参数对应的采样样本点个数的最小公倍数。找到比η小的正整数h，且使η和h成互质关系。把符合这些要求的正整数组成一个向量h,h= Ovh2, Λ，hm),其中m由欧拉函数炉(《)决定。运用同余运算，生成均匀设计表的第j列，如下公式所示Uij = ihj 当ihj大于η时，我们用它减去η的一个适当倍数，使其差值落在之中。Uij可以由以下公式递推生成Ulj = hj权利要求1.一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，其特征在于，包括 获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数； 根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表； 选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，其特征在于，包括：获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数；根据所述几何参数和采样样本点个数，通过好格子点法构造均匀设计表；选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘若鹏，易翔，栾琳，刘斌，
申请(专利权)人：深圳光启高等理工研究院，深圳光启创新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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