一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置制造方法及图纸

技术编号:8241054 阅读:143 留言:0更新日期:2013-01-24 21:26
本发明专利技术实施例提供一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置,包括:获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数;根据所述几何参数和采样样本点个数,通过好格子点法构造均匀设计表;选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点,实施本发明专利技术实施例,实现了选取较少的试验点来完成试验,减少试验点的选取个数,节约了试验资源,优化了试验设计。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超材料领域,具体涉及一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置
技术介绍
随着超材料技术的发展,人工电磁材料结构单元电磁特性的描述对人工电磁材料自动化设计起着至关重要的作用,测量人工电磁材料结构单元的电磁特性是人工电磁材料设计过程中的一个重要环节,人工电磁材料的形状和大小会影响其电磁特性,因此,在测量人工电磁材料单元的电磁特性的过程中需要选取大量的试验点进行试验。目前,人工材料单元的试验点选取方法为例如对一种“工”型拓扑结构的超材料·单元进行试验,定义的几何参数为G向量,假设参数&,b,和w三参数的取值范围分别为,,,且各几何参数对应的采样样本点个数为4,3和2。按照正交试验设计原理获得正交表如下表I所示 序号 a b w 1—1I O. I 2—1I 0. 2 3—12 O. I 4—12 0.2 5—13 O. I 6—13 0.2 7— 2 I O. I 8— 2 I 0.2 9— 2 2 O. I 10—2 2 0.2 11—23 O. I 12—23 0.2 13—3I O. I 14—3I 0.2 15—32 O. I本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种人工电磁材料单元的试验点选取方法,其特征在于,包括:获取待测人工电磁材料单元的几何参数和所述几何参数的采样样本点个数;根据所述几何参数和采样样本点个数,通过好格子点法构造均匀设计表;选取所述均匀设计表指示的人工电磁材料单元的试验点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘若鹏易翔栾琳刘斌
申请(专利权)人:深圳光启高等理工研究院深圳光启创新技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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