含Pr的闪烁体用单晶及其制造方法和放射线检测器以及检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于X射线CT、放射线透过检查装置的，具有极高发光量的氧化物闪烁体单晶，具体地说，提供含Pr的柘榴石型氧化物单晶、含Pr的钙钛矿型氧化物单晶以及含Pr的硅酸盐氧化物单晶，其特征在于，它们均能够检测出被推测为伴随Pr的5d－4f之间的迁移而引起的发光。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及含镨(Pr)的闪烁体用单晶及其制造方法、和使用该闪烁体用单晶的放射线检测器以及检查装置。
技术介绍
在正电子放射性核素断层成像装置(PET)中，由于通过符合计数来检测能量较高的伽马射线(湮灭伽马射线511keV)，因此，一直采用感应度高且能高速响应的闪烁检测器。在检测器的特性中，要求具有高计数率特性或用于消除随机符合计数噪声的高时间分辨率，并且，为了消除来自体内的散射线，希望其能量分辨率也优异。因此，作为适合用于满足上述要求的检测器的闪烁体，从检测效率的方面考虑，希望其密度高且原子序数大(光电吸收比高)；从高速响应的必要性或高能量分辨率的方面考虑，希望其发光量多、荧光寿命(荧光衰减时间)短。另外，在近年来的系统中，为了达到多层化·高分辨率化，有必要将大量的闪烁体以微细细长的形状稠密地排列，因此，操作的容易程度、加工性、而且价格都成为选择的要素。由于Tl =NaI的发光量多且比较廉价，因此在闪烁检测器中最常使用，但是，由于其密度低、不能提高检测器的感应度，再加上因潮解性而导致的操作性差，因此，被Bi4Ge3O12 (BGO)取代。BGO的波长为490nm、折射率为2. 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种闪烁体用单晶，其特征在于，其为以（PrxRE1－x）3（Al1－yGay）5O12表示的闪烁体用单晶，其中，RE为选自Y、Sc、Yb、Lu中的一种或两种以上；Pr的浓度x的范围为0.0001≤x﹤0.02；Ga的浓度y的范围为0≤y≤1。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：吉川彰，荻野拓，镰田圭，青木谦治，福田承生，
申请(专利权)人：东北泰克诺亚奇股份有限公司，古河机械金属株式会社，
类型：发明
国别省市：