【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种用于低通滤波器晶片检测的快速测量检测装置。技术背景目前，对于加工生产低通滤波器晶片时，用来测量其尺寸大小的器具是越来越多，并且能达到一定的精准度，但对于一般采用的检测器具是千分尺，在具体实施检测时，是需要人工进行检测的，这样的检测方法很容易由于人手的晃动导致检测不准，且，还需要人工一次次的对千分尺进行校准，很大程度影响了检测的效率。
技术实现思路
本技术解决的技术问题是提供一种提高检测精度的准确度，并能实现快速定位检测，达到节省工时目的的快速测量检测装置。本技术解决其技术问题所采取的技术方案是一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置，包括底座和千分尺，在所述底座上设置有固定块，在所述固定块上开设有凹腔，在凹腔内设有定位块和移动块，所述移动块可沿凹腔内前后移动，所述定位块和移动块通过径向螺栓连接固定，在所述固定块的侧边设有横向螺栓，该横向螺栓穿过凹腔；所述千分尺固定在定位块和移动块之间，在所述千分尺的头部卡设一定位挡块，在所述定位挡块上开设有凹槽。进一步的，所述底座和固定块是一体化注塑制得。本技术的有益效果是本装置用于将千分尺固定在定位块和...
【技术保护点】
一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置，其特征在于：包括底座(1)和千分尺(7)，在所述底座(1)上设置有固定块(3)，在所述固定块(3)上开设有凹腔(31)，在凹腔(31)内设有定位块(5)和移动块(6)，所述移动块(6)可沿凹腔(31)内前后移动，所述定位块(5)和移动块(6)通过径向螺栓(4)连接固定，在所述固定块(3)的侧边设有横向螺栓(2)，该横向螺栓(2)穿过凹腔(31)；所述千分尺(7)固定在定位块(5)和移动块(6)之间，在所述千分尺(7)的头部卡设一定位挡块(8)，在所述定位挡块(8)上开设有凹槽(81)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：冷志红，蔡灵玲，
申请(专利权)人：昆山明本光电有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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