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本实用新型涉及一种用于低通滤波器晶片尺寸测量的快速测量检测装置，包括底座和千分尺，在底座上设置有固定块，在固定块上开设有凹腔，在凹腔内设有定位块和移动块，移动块可沿凹腔内前后移动，定位块和移动块通过径向螺栓连接固定，在固定块的侧边设有横向螺...
该专利属于昆山明本光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山明本光电有限公司授权不得商用。

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