光轴平行性标定系统及标定方法技术方案

技术编号:8214092 阅读:191 留言:0更新日期:2013-01-17 07:41
本发明专利技术涉及一种光轴平行性标定系统及标定方法,光轴平行性标定系统包括自准直经纬仪、数据处理计算机以及用于对自准直经纬仪进行自准的平面反射镜;待测光学系统设置在自准直经纬仪的出射光路上并与数据处理计算机电性相连。本发明专利技术提供了一种测试精度高、实时性好以及应用领域广的光轴平行性标定系统及标定方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学领域,涉及一种标定方法,尤其涉及一种。
技术介绍
随着科学技术的发展,军用光电武器设备功能更加丰富, 性能指标更高,并且一般都包含有电视、红外、激光等多个光电传感器,能够完成对目标的搜索、捕获、跟踪、瞄准、成像及激光照射等功能,这些光学设备的光谱几乎覆盖了可见光到红外的全部波段,不仅能够获得目标的物理特性参数还可以获得目标的光谱特性信息。对于这种集多种光学仪器于一体的设备,必然产生诸多光学系统间的光轴平行性问题。各光轴之间的平行性在保证武器系统的命中目标概率、命中目标精度方面和获取目标信息的准确性方面起着至关重要的作用。因此,光轴的平行度是多光轴系统的一个重要性能参数。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中存在的上述技术问题,本专利技术提供了一种测试精度高、实时性好以及应用领域广的。本专利技术的技术解决方案是本专利技术提供了一种光轴平行性标定系统,其特殊之处在于所述光轴平行性标定系统包括自准直经纬仪、数据处理计算机以及用于对自准直经纬仪进行自准的平面反射镜;待测光学系统设置在自准直经纬仪的出射光路上并与数据处理计算机电性相连。待测光学系统是多光轴系统。待测光学系统是具有多本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光轴平行性标定系统,其特征在于:所述光轴平行性标定系统包括自准直经纬仪、数据处理计算机以及用于对自准直经纬仪进行自准的平面反射镜;待测光学系统设置在自准直经纬仪的出射光路上并与数据处理计算机电性相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:田留德赵建科周艳潘亮龙江波曹昆
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:

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