平衡检测共聚焦显微镜成像系统及其三维影像重建方法技术方案

一种平衡检测共聚焦显微镜成像系统其三维影像重建方法，包含:光源；光束放大器；聚焦机构；扫瞄机构；等量分束器，将反射光束分成两等量光束；大面积光检测器接收来自该等量分束器的一道光束，并测得使光束的信号强度；针孔接收来自该等量分束器的另一道光束；光束倍增管接收来自该针孔的信号，并测得此信号的强度；处理器，接收来自该光束倍增管及该大面积光检测器所检测的信号的信号强度，并经过校准的程序以得到校准后的反射信号强度；并应用在不同的轴向深度处的不同截面上所得到信号强度，重建该样品的影像。使用三阶非线性拟合，可增加可应用的动态范围。且经由消除光源中的功率的变动，平衡的检测可以改进轴向的分辨率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的领域属于立体影像重建，尤其是有关于ー种平衡检测共聚焦显微镜(confocal microscope)成像系统及其三维影像重建方法。
技术介绍
共聚焦显微镜早在1957年即为Marvin Minskey所提出，并于1961年获得专利。早先由于没有高功率的空间相干光源(spatial coherent light source),所以共聚焦显微镜并无法善加应用。只是在激光技术产生后，此ー现像才被改迸。 共聚焦显微镜的信号光源主要为激光器或荧光(fluorescence)。由一高数值孔径(numerical aperture)的聚焦装置搜集信号光且应用一光检测器进行检測。在聚焦深度外部的光将被光检测器之前的ー针孔(pinhole)阻挡住。因为聚焦深度外部的光无法被光检测器所检测到，所以共聚焦显微镜具有深度辨识的能力。共聚焦显微镜的反射強度相对于轴向深度为ー sine square的曲线，且深度的分辨率为此曲线该最大值之半的全宽(fullwidth at half maximum of this curve)。在可见光的范为内，其约为300纳米,而侧向的分辨率为入射的激光束的散本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平衡检测共聚焦显微镜成像系统，其特征在于，包含:一光源；一光束放大器接收来自该光源的光束并经散射后放大该光束的截面；？一聚焦机构，用于聚焦通过该光束放大器的光，以将在光束聚焦到一待测样品上；一扫瞄机构，能调整该聚焦机构相对于该样品的轴向深度，并在不同深度处的样品平面上的移动，以使得该光束在不同的样品点上聚焦后并产生反射光束；一等量分束器，将该反射光束分成两等量光束；一大面积光检测器接收来自该等量分束器的一道光束，并测得该光束的信号强度；一针孔接收来自该等量分束器的另一道光束；一光束倍增管接收来自该针孔的光束的信号，并测得此光束的信号的强度；一处理器，接收来自该光束倍增管及该大面积光检测器所...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄书伟，李选德，
申请(专利权)人：黄书伟，李选德，
类型：发明
国别省市：