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一种六自由度微流控芯片吸收光谱检测支架制造技术

技术编号:8190074 阅读:328 留言:0更新日期:2013-01-10 01:15
本发明专利技术公开一种在微流控芯片吸光度检测实验时使用的六自由度吸收光谱检测支架,该支架具有x、y、z向检测支撑臂,分别支撑有对应的x、y、z向检测连接臂,支架的中部位置固定连接四个微流控芯片载装臂,x、y、z向检测连接臂上分别对应的固定连接各两个x、y、z向检测光纤载装臂,微流控芯片载装臂为内套有伸缩式连接臂的空心管状,伸缩式连接臂的伸出端连接微流控芯片载装夹;检测光纤载装臂均为内套有伸缩式曲臂的空心管状,伸缩式曲臂的伸出端为内套伸缩式准直镜载装臂的空心管状,伸缩式准直镜载装臂的伸出端固定连接准直镜连接套管,准直镜连接套管连接与光纤相接的准直镜;可同时对微流控芯片进行多角度检测,通用性好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微流控芯片吸收光谱检测支架,在微流控芯片吸光度检测实验时使用。
技术介绍
微流控芯片分析系统是将生物、化学实验过程微缩到只有几厘米的芯片上来进行实验与分析的新技木。吸收光度測定法是ー种成熟且可靠的分析方法,据统计,占物质总量80%的物质都对紫外或可见光有吸收响应,吸收光度检测法具有可測定物质种类多、结构简单的优点。因此,将微流控芯片与吸收光度測定法相结合的微流控芯片吸光度检测技术逐渐成为国内外研究热点。为了能够实现微流控芯片的吸光度检测实验,目前国内外学者都 是根据所设计微流控芯片结构设计专用的吸光度检测支架,专用的吸光度检测支架不能移植用于其他微流控芯片的吸光度检测。然而,微流控芯片的吸光度检测可分为纵向检测和轴向检测,而且不同的芯片结构,检测位置也千差万別,有的微流控芯片甚至同时存在多路吸光度检测同时进行的需要,毎次都要重新设计微流控芯片检测支架耗费了大量的人力、物カ和财力,同时支架的设计需要在微流控芯片设计完成后进行,这样就造成了实验时间的浪费。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对目前微流控芯片吸光度检测实验时检测支架通用性差的缺陷,提出了ー种六自由度微流控芯片吸本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种六自由度微流控芯片吸收光谱检测支架,该支架具有x、y、z向检测支撑臂(8、2、6),分别支撑有对应的x、y、z向检测连接臂(5、3、7),其特征是:支架的中部位置固定连接分别用于夹装微流控芯片(32)的四角的四个微流控芯片载装臂(4),x、y、z向检测连接臂(5、3、7)上分别对应的固定连接各两个x、y、z向检测光纤载装臂(11、9、10),相同方向上的每两个所述检测光纤载装臂(11、9、10)布置在微流控芯片(32)的两侧;所述微流控芯片载装臂(4)为内套有伸缩式连接臂(31)的空心管状,伸缩式连接臂(31)的伸出端连接微流控芯片载装夹(12);所述x、y、y向检测光纤载装臂(11、9、...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张荣标杨宁徐佩锋张磊张永春
申请(专利权)人:江苏大学
类型:发明
国别省市:

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