【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学测距领域,特别涉及一种用于测量距离的拍摄装置,本专利技术还提供了一种测距方法。
技术介绍
技术研发、工业应用和日常应用中,精确测量目标物体的距离的需求越来越多。现有光学测量技术中常用这两种方法实现测距。一种是激光测距仪,激光测距原理是由激光器发射激光照射物体,通过接受物体表面漫反射的激光信号,计算激光的传播·时间来确定目标的距离。这种方法是采用通过计算介质的折返时间来换算出的距离,由于目标物体的形状不规则性,对介质的吸收反射的不同,故通过对时间的技术来得到目标物的距离存在很多局限性。另外一种是使用红外线或可见光结构光线的方法。当某种光构造的图案投射到目标物体时,人们可以根据光线形成图案的变形情况来测距。例如,当很多圆点投射到目标物体上时,圆点的密度可以用来决定距离。圆点越密集,物体的距离就越近。例如,激光测距仪只能测量点对点的单个目标点的距离。结构光线不能或是很难测量很暗的或无反射性的目标物体。并且,目标物体的边缘会打乱投射到其本身的光线图案,从而导致出错。由于只有一种构造的光线可以使用,所以使用这种方法不能测量较长的距离,它的工作范围受到了限 ...
【技术保护点】
一种用于测距的拍摄装置,其特征在于:包括照明模块、镜头组、传感器模块和图像处理单元;所述照明模块至少包括2种具有不同发光颜色的发光器件,不同颜色的光从不同角度照射目标物体,同种颜色的光以扩散的方式射出;所述镜头组包括若干镜头,不同镜头从不同角度拍摄目标物体;所述传感器模块将目标物体所反射的光信号转换为电信号;所述图像处理单元预先记录有拍摄区域不同位置的光谱特点,接收目标物体的电信号图像,并对比电信号图像的光谱特性和预先记录的光谱特点,分析出目标物体的空间位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:于燕斌,
申请(专利权)人:广州市盛光微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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