一种用于测距的拍摄装置及测距方法制造方法及图纸

技术编号:8189811 阅读:198 留言:0更新日期:2013-01-10 01:02
本发明专利技术公开了一种用于测距的拍摄装置,包括照明模块、镜头组、传感器模块和图像处理单元。本发明专利技术还公开了一种测距方法,该方法包括如下步骤:步骤一、不同颜色的单色光从不同角度向目标物体照射同种颜色的光以扩散的方式射出;步骤二、对目标物体进行拍摄,传感器将光信号图像转换为电信号图像;步骤三、图像处理单元接收所述电信号图像,并对比电信号图像的光谱特性和预先记录的光谱特点,分析出目标物体所处的空间位置。本发明专利技术通过各单色光照射到目标物体表面,通过拍摄一副图像,由图像中目标物体本身各个点所对应的像素亮点来计算出相对位置。以解决传统的测距方法每次测量只能测一个点的位置这种限制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学测距领域,特别涉及一种用于测量距离的拍摄装置,本专利技术还提供了一种测距方法。
技术介绍
技术研发、工业应用和日常应用中,精确测量目标物体的距离的需求越来越多。现有光学测量技术中常用这两种方法实现测距。一种是激光测距仪,激光测距原理是由激光器发射激光照射物体,通过接受物体表面漫反射的激光信号,计算激光的传播·时间来确定目标的距离。这种方法是采用通过计算介质的折返时间来换算出的距离,由于目标物体的形状不规则性,对介质的吸收反射的不同,故通过对时间的技术来得到目标物的距离存在很多局限性。另外一种是使用红外线或可见光结构光线的方法。当某种光构造的图案投射到目标物体时,人们可以根据光线形成图案的变形情况来测距。例如,当很多圆点投射到目标物体上时,圆点的密度可以用来决定距离。圆点越密集,物体的距离就越近。例如,激光测距仪只能测量点对点的单个目标点的距离。结构光线不能或是很难测量很暗的或无反射性的目标物体。并且,目标物体的边缘会打乱投射到其本身的光线图案,从而导致出错。由于只有一种构造的光线可以使用,所以使用这种方法不能测量较长的距离,它的工作范围受到了限制。
技术实现思路
本专本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于测距的拍摄装置,其特征在于:包括照明模块、镜头组、传感器模块和图像处理单元;所述照明模块至少包括2种具有不同发光颜色的发光器件,不同颜色的光从不同角度照射目标物体,同种颜色的光以扩散的方式射出;所述镜头组包括若干镜头,不同镜头从不同角度拍摄目标物体;所述传感器模块将目标物体所反射的光信号转换为电信号;所述图像处理单元预先记录有拍摄区域不同位置的光谱特点,接收目标物体的电信号图像,并对比电信号图像的光谱特性和预先记录的光谱特点,分析出目标物体的空间位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:于燕斌
申请(专利权)人:广州市盛光微电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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