光学式测距装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学式测距装置及电子设备。该光学式测距装置中，在由遮光性树脂形成的二次模制件（9）及三次模制件（10）之间保持透镜架（11），该透镜架（11）由金属形成，保持发光透镜（5）及受光透镜（6）。透镜架（11）在表面及背面具有凹凸结构（11b）。因为大幅提高发光透镜（5）及受光透镜（6）与透镜架（11）的紧密结合力，所以能够防止发光透镜（5）、受光透镜（6）与透镜架（11）之间发生滑动。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学式测距装置及搭载该装置的电子设备，该光学式测距装置用来以光学方式测量距测距对象物的距离，特别是即使在由于回流焊等导致温度变化而发生热膨胀或收缩的情况下也具有高测距精度。
技术介绍
图12是说明普通的三角测距法的原理的示意图。如图12所示，现有的普通光学式测距装置例如具有发光元件201、受光元件202、发光透镜203及受光透镜204。在该光学式测距装置中，从配置在原点(0，0)的发光元件201射出的光束通过配 置在A点(0，d)的发光透镜203，成为大致平行的光束(发光轴205)，作为点光源(7 ”卜光)，向测距对象物211上的B点(0，y)照射。被测距对象物211反射的光束(受光轴206)通过配置在C点(L，d)的受光透镜204 (聚光镜)聚光，在配置于沿X方向的轴上的受光元件202上的D点(L+1，0)成像，形成受光点(受光^ ”卜)。在此，如果将通过C点(受光透镜204的中心)且与y轴平行的线与受光元件202的受光面交叉而形成的点作为E点(L，0)，则三角形ABC与三角形E⑶相似。因此，检测出受光元件202上的受光点的位置，测量边长ED (=1)，根据下述公式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学式测距装置，是用来测量距测距对象物的距离的光学式测距装置；该光学式测距装置的特征在于，具有：发光元件，安装在安装部件上；发光透镜，由透光性树脂形成，将所述发光元件的射出光照射至所述测距对象物；受光元件，安装在所述安装部件上，用来检测来自所述测距对象物的反射光会聚的位置；受光透镜，由透光性树脂形成，使所述反射光会聚于所述受光元件；透光性树脂体，密封所述发光元件及所述受光元件；第一遮光性树脂体，覆盖所述透光性树脂体，以形成使所述射出光从所述发光元件照射至所述发光透镜的空间，以及使所述反射光从所述受光透镜照射至所述受光元件的空间；透镜架，由金属形成，保持所述发光透镜及所述受光透镜；第二遮光性...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：和田秀夫，山口阳史，久保胜，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：