【技术实现步骤摘要】
本技术涉及仪器按键领域，尤其涉及一种具有较长使用寿命的按键结构。
技术介绍
电子设备是现代社会中不可或缺的装置，电子设备已经深入到我们的工作和生活当中，电子设备通常依靠按键来实现各种功能。比如手持设备上的键盘按键、数字按键，大型仪器操作面板上的按键等等。按键都有使用寿命的限制，通常的按键寿命在几万次到几十万次不等。对于大型昂贵的仪器设备来说，按键的使用寿命一定程度上决定了仪器的使用寿命。有时，仪器的主要部件性能还是完好的，但是按键损坏却导致了仪器不能使用。就按键的结构来说，造成按键损坏的主要原因是长期使用后引起接触导电性能的下降，是的按键不能准确反应操作信号。
技术实现思路
本使用新型旨在提出一种能够延长使用寿命的按键结构。根据本技术的一实施例，提出一种按键结构包括键体、键帽和触发杆。键体包括由弹性件连接的上支架和下支架，上支架和下支架中间具有对准的上通孔和下通孔，下支架架设于电路板上。键帽盖于上支架上，键帽覆盖于上通孔的位置。触发杆的顶端连接到键帽，触发杆贯穿上通孔和下通孔，触发杆的底部贴有金属箔。在一个实施例中，在弹性件的复位位置，触发杆的底部与电路板具有一间隙。在...
【技术保护点】
一种按键结构，其特征在于，包括：键体，键体包括由弹性件连接的上支架和下支架，上支架和下支架中间具有对准的上通孔和下通孔，下支架架设于电路板上；键帽，键帽盖于上支架上，键帽覆盖于所述上通孔的位置；触发杆，触发杆的顶端连接到键帽，触发杆贯穿所述上通孔和下通孔，触发杆的底部贴有金属箔。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：唐寅，
申请(专利权)人：上海博曦计量测试技术有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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