测定介质容器中的液位的方法技术

技术编号:8160173 阅读:161 留言:0更新日期:2013-01-07 18:49
本发明专利技术涉及用于测定第一介质(1)的液位的方法,所述第一介质在介质容器(10,321)中被第二介质(2)覆盖,其中所述第一介质(1)接近或高于其临界点并且具有第一介电常数,所述第二介质(2)存在于气相中并且具有第二介电常数。建议利用电容测量装置(20)测定第一介质的液位。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于、液位測量装置的相应的用途以及具有相应的液位測量装置的设备。
技术介绍
尽管以下对本专利技术的描述主要涉及液化装置的分离器中液氮或液氖的液位測量,但是需要强调的是所推荐的措施并非仅限于此,而是可以应用于一系列其中应当測定接近或高于其临界点的介质的液位的装置中。众所周知,物质的临界点P。是指液相和气相的密度相适应从而在这两个聚集态之间无法确定差异的热力学状态。在相图中该点表示蒸汽压カ曲线的上端。測量接近或高于临界点的低温液体的液位特别困难,因为无法充分地在物理上区分聚集态。·图I所示为ー种通常用于在使用冲洗气鼓泡的条件下利用流体静力学測量法测定介质液位的系统。利用所图示的测量装置100可以测定第一介质I的液位I',该第一介质在图I中仅示意性显示的介质容器10中被第二介质2覆盖。为此设置第一(+)測量管路110和第ニ(_)測量管路120,确定它们之间的压カ差。由于介质容器10中的物理条件,无法将用于测量压カ的压カ变送器直接布置在第一介质I中。因此给第一測量管路110配备有用于使冲洗气在此情况下例如是氦气进行鼓泡的装置130。以此方式可以在第一(+)測量管路110中形成本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于测定第一介质(1)的液位(1′)的方法,所述第一介质在介质容器(10)中被第二介质(2)覆盖,其中所述第一介质(1)接近或高于其临界点并且具有第一介电常数,所述第二介质(2)存在于气相中并且具有第二介电常数,其特征在于,利用电容测量装置(20)测定第一介质的液位(1′)。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:C·孔茨R·弗吕根R·艾歇尔曼
申请(专利权)人:林德股份公司
类型:发明
国别省市:

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