用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术名称为“用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法和装置”。公开一种用于显示观察的物体(202)表面(210)的三维数据质量的指示的方法和装置，其中在与表面点(221、222、223、224)对应的图像(500)的像素(231、232、233、234)上显示叠加层(240、250)，指示那些表面点(221、222、223、224)的三维坐标的预计精确度或可用性。

【技术实现步骤摘要】

本文公开的专利技术主题涉及用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法和装置。
技术介绍
可以使用如视频内窥镜的视频检查装置来检查观察的物体的表面，以识别和分析物体损伤或磨耗可能导致的该表面上的不平整。在许多实例中，表面是不可接近的并且不使用视频检查装置无法观察到。例如，可以使用视频内窥镜检查飞行器或发电单元上的涡轮引擎叶片的表面，以识别可能在表面上已经形成的任何不平整从而确定是否需要任何修复或进一歩维护。为了进行该评估，常常需要获取该表面和不平整的高度精确的空间测量以验证不平整未超出该物体的操作极限或要求的规范或落在该物体的操作极限或要求的规范之外。 为了确定表面上的不平整的尺寸，可以使用视频检查装置来获取和显示示出不平整的观察的物体的表面的ニ维图像。可以使用表面的此ニ维图像来生成表面的三维数据(例如，以地图的形式)，该表面的三维数据提供包括在表面上的(例如，不平整附近的)关注区域中的、表面上的多个点的三维坐标(例如，(x、y、z))。在ー些视频检查装置中，操作员能够以测量模式操作视频检查装置来进入测量屏幕，在测量屏幕中，操作员将光标置于关注区域中的ニ维图像上以确定不平整的几何尺寸。除了在以测量模式检查期间执行测量夕卜，操作员还能够保存图像而不一定要进入测量模式，并且能够在后来的时间执行測量。仅在被选择来执行测量的不平整附近的表面点有精确的三维坐标可用的情况下，才能执行不平整的精确测量。例如，在表面的ー些区域中，可能由于过大目标距离、像素饱和、阴影等原因而使三维坐标不可用。在其他区域中，可能有三维坐标可用，但是这些坐标的精确度可能因反射、其他光质量问题等而不佳。当操作员观察要执行测量的表面的ニ维图像时，没有哪些区域不具有三维坐标来执行测量或那些区域存在潜在地不精确的三维坐标的指示。在对于表面没有三维数据质量的指示情况下，在进行测量时，操作员可能在不经意中将光标置于没有三维坐标的区域中或存在不精确的三维坐标的区域中。这可能导致不精确的测量，或在视频检查装置告知操作员没有三维坐标可用的那些情况中，这可能会使测量过程延迟，直到操作员能够获取具有精确三维数据的另ー个图像为止。如果操作员对较早检查期间保存的图像执行測量并且关注区域没有精确的三维数据，则一定要重新执行检查，才能执行测量。因此，需要在执行测量或保存图像以供后来测量时提供表面的三维数据质量的指示。上文论述仅是针对一般背景信息而提供的，并且无意用作对确定要求保护的本专利技术主题的范围的协助。
技术实现思路
公开ー种用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法和装置，其中在与表面点对应的图像的像素上显示叠加层(overlay)，指示那些表面点的三维坐标的预计精确度或可用性。在一个示范实施例中，公开ー种用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法。该方法包括如下步骤获取并显示观察的物体表面的图像，其中该图像的多个像素对应于观察的物体上的多个表面点；确定多个表面点的三维坐标；确定与多个表面点对应的多个像素中的每个像素的精确度值，其中该精确度值基于与像素对应的表面点的三维坐标的预计精确度；对具有精确度值的多个像素中的每个像素，确定该精确度值是否在可接受的精确度值范围以外；以及对于其精确度值在可接受的精确度值范围以外的多个像素中的每个像素显示叠加层。 在另ー个示范实施例中，用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法，包括如下步骤获取并显示观察的物体表面的图像，其中该图像的多个像素对应于观察的物体上的多个表面点；对于与多个表面点对应的多个像素中的每个像素，确定与该像素对应的表面点的三维坐标是否可用；以及对于其中与像素对应的表面点的三维坐标不可用的每个像素显示第一叠加层。在又一个示范实施例中，公开ー种用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的装置。该装置包括用于获取观察的物体表面的图像的成像器，其中该图像的多个像素对应于观察的物体上的多个表面点；中央处理器，其用于确定多个表面点的三维坐标，确定与多个表面点对应的多个像素中的每个像素的精确度值，其中该精确度值基于与像素对应的表面点的三维坐标的预计精确度，以及对具有精确度值的多个像素中的每个像素，确定该精确度值是否在可接受的精确度值范围以外；以及监视器，其用于显示观察的物体的表面的图像以及对于其精确度值在可接受的精确度值范围以外的多个像素中的每个像素显不置加层。本专利技术的此简要描述仅g在提供根据ー个或多个说明性实施例的本文公开的专利技术主题的概述，并不作为解释权利要求或者定义或限制本专利技术的范围的引导，本专利技术的范围仅由所附权利要求定义。提供此简要描述，从而以简化形式介绍这些概念的说明性选择，并在下文详细描述中予以进ー步描述。此简要描述无意标识要求权利的专利技术主题的关键特征或本质性特征，也无意用作确定要求权利的专利技术主题的范围的协助。该要求权利的专利技术主题不限于解决
技术介绍
中提到的任何ー些或全部缺点的实现。附图说明作为能够理解本专利技术的特征的方式，本专利技术的详细描述可參考某些实施例，而附图中图示了其中ー些。但是要注意，附图仅图示本专利技术的某些实施例，因此不应视为对其范围的限制，对于本专利技术的范围涵盖其他等效的实施例。这些附图不一定按比例绘制，而是着重于图示本专利技术的某些实施例的特征。在这些附图中，贯穿多个不同视图中相似的数字用于指示相似的部件。因此，为了进ー步理解本专利技术，可以结合附图来阅读參考下文的详细描述，在这些附图中图I是根据本专利技术示范实施例的视频检查装置的框图2是本专利技术示范实施例中、由视频检查装置对有不平整的观察的物体表面获取的图像，其显示叠加层以指示表面的三维数据的质量；图3是本专利技术示范实施例中用于显示图2的图像中示出的观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法的流程图；图4是本专利技术另ー个示范实施例中、由视频检查装置对有不平整的观察的物体表面获取的图像，其显示叠加层以指示表面的三维数据的质量；以及图5是本专利技术另ー个示范实施例中用于显示图4的图像中显示的观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法的流程图。具体实施方式 公开ー种用于显示观察的物体表面的三维数据质量的指示的方法和装置，其中在与表面点对应的图像的像素上显示叠加层，指示那些表面点的三维坐标的预计精确度或可用性。可在方法和装置的一些公开的实施例的实践中实现的优点是，视频检查装置的操作员将在执行测量或保存图像以供后来测量时知道表面的哪些区域具有精确的三维数据。图I是本专利技术的示范实施例中的视频检查装置100的框图。将理解，图I所示的视频检查装置100是示范性的，并且本专利技术的范围不限于任何具体视频检查装置100或视频检查装置100内组件的任何具体配置。视频检查装置100可以包括细长探头102，细长探头102包括插管110和布设在插管100的远端处的头部组装件120。插管110可以是柔性管状部分，头部组装件120与探头电子器件140之间的所有互连穿过该柔性管状部分而通过。头部组装件120可以包括探头光学器件122，探头光学器件122用于引导来自观察的物体202的光井将其聚焦在成像器124上。探头光学器件122可以包括，例如单透镜(lens singlet)或具有多个组件的透镜。成像器124可以是固态CXD或CMOS图像传感器，用于获取观察的物体202的图像。可以将可拆式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于显示观察的物体(202)的表面(210)的三维数据质量的指示的方法，包括如下步骤：获取并显示所述观察的物体(202)的所述表面(210)的图像(500)，其中所述图像(500)的多个像素(231、232、233、234)对应于所述观察的物体(202)上的多个表面点(221、222、223、224)；对与所述多个表面点(221、222、223、224)对应的所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素，确定是否有与所述像素(231、232、233、234)对应的所述表面点(221、222、223、224)的三维坐标可用；以及对于其中与所述像素(231)对应的所述表面点(221)的所述三维坐标不可用的每个像素(231)显示第一叠加层(250)。

【技术特征摘要】
2011.04.06 US 13/0812201.一种用于显示观察的物体(202)的表面(210)的三维数据质量的指示的方法，包括如下步骤 获取并显示所述观察的物体(202)的所述表面(210)的图像(500)，其中所述图像(500)的多个像素(231、232、233、234)对应于所述观察的物体(202)上的多个表面点(221、222、223、224)； 对与所述多个表面点(221、222、223、224)对应的所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素，确定是否有与所述像素(231、232、233、234)对应的所述表面点(221、222、223,224)的三维坐标可用；以及 对于其中与所述像素(231)对应的所述表面点(221)的所述三维坐标不可用的每个像素(231)显不第一叠加层(250) ο2.如权利要求I所述的方法，其中，对与所述多个表面点(221、222、223、224)对应的所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素，确定是否有与所述像素(231、232、233、234)对应的所述表面点(221、222、223、224)的所述三维坐标可用的所述步骤包括 确定所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素的亮度级； 对所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素确定所述亮度级是否在可接受的亮度值范围以外；以及 对其亮度级在所述可接受亮度值范围以外的所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素，确定与所述像素(231、232、233、234)对应的所述表面点(221、222、223、224)的所述三维坐标不可用。3.如权利要求I所述的方法，其中，对与所述多个表面点(221、222、223、224)对应的所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素，确定是否有与所述像素(231、232、233、234)对应的所述表面点(221、222、223、224)的所述三维坐标可用的所述步骤包括 确定所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素的细节级； 对所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素确定所述细节级是否在可接受的细节值范围以外；以及 对其细节级在所述可接受细节值范围以外的所述多个像素(231、232、233、234)中的每个像素，确定与所述像素(231、232、233、234)对应的所述表面点(221、222、223、224)的所述三维坐标不可用。4.如权利要求I所述的方法，其中，在光标移到其中与所述像素(231)对应的所述表面点(221)的所述三维坐标不可用的像素(231)上方时，发生对于其中与所述像素(231)对应的所述表面点(221)的所述三维坐标不可用...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·A·本达尔，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：