三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，包括一个弧形的光源支架（1），其上部通孔设有的光源顶环（3）与显微摄像机（8）连接，光源支架下部通孔内设有转向环（6），其内孔设有转向套（7），转向套内孔设有光源头（2），光源头内孔中插入光纤接头（9），光纤接头（9）连接光纤（10），光源头（2）的一端端联接有光源聚光筒（4）。采用本实用新型专利技术的优点，使用光源支架、转向套、聚光筒对光源的照射位置、旋转角度和聚光度进行调整，可实现对测量物体取景成像工作的需要，其结构合理、性能稳定、操作简便，可用于微电子微机械精密件质量检测，从而提高质量检验技术水平和工作效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及公安刑侦鉴识领域，特别是涉及ー种在三维形貌痕迹比对测量仪上使用的光源夹具。
技术介绍
目前我国对枪弹的弹头、弹壳及工具线条痕迹等方面的比对和检测，尚处在以实物样本存储来分析的状況，对痕迹信息的检测仍停留在借助单ー仪器直接观察ニ维图像比对的技术层面上，无法解决在三维空间物体形貌技术和痕迹比对技术中存在的精确定位测量难题。在使用三维形貌痕迹比对测量仪时，由于观测的需要，急需ー种用于对不同物体观测提供成像光照的易用的操作夹具。
技术实现思路
本技术的目的就是为了实现对不同物体观测提供成像光照的需要，提供了一种用于三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，其特征在于，包括ー个弧形的光源支架，其两端分别设有一个通孔，其上部通孔设有光源顶环，光源顶环中设有与显微摄像机连接的螺纹孔，光源支架的下部通孔内设有转向环，转向环内孔设有转向套，转向环的内孔与转向套的球形外壁配合，转向套内孔设有光源头，光源头内孔中插入光纤接头，光纤接头连接光纤，光源头的一端端联接有光源聚光筒。光源支架上设有顶丝与转向环配合定位。使用时，将该光源夹具套在显微摄像机外筒上，将光源顶环以螺纹配合旋入显微摄像机外筒，支撑及定位光源夹具，在光源头的尾部插入外接光源接头，通过旋转光源支架可调整光源照射的位置，使用转向套可调节外接光源照射的角度，使用光源聚光筒可调节外接光源照射的聚光度。综上所述，采用本技术的优点是通过设置光源夹具，使用光源支架、转向套、聚光筒对光源的照射位置、旋转角度和聚光度进行调整，可实现对測量物体取景成像工作的需要，其结构合理、性能稳定、操作简便，可用于微电子微机械精密件质量检測，从而提高质量检验技术水平和工作效率。附图说明图I是本技术的立体结构示意图；图2是图I剖视图；图3是本技术的使用状态图。具体实施方式以下结合附图对本技术作详细说明如图I、图2所示，为本技术提供的一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，包括光源支架I、光源顶环3、光源头2、光源聚光筒4、转向套7、转向环6、顶丝5。如图I、图2、图3所示，所述光源支架I为弧形支架，其两端分别设有一个通孔，其上部通孔的下部设有光源顶环3，光源顶环3以螺纹配合旋接在显微摄像机8外筒上，光源支架I的下部通孔内设有转向环6,光源支架I与转向环6通过顶丝5固定,转向环6内孔设有转向套7，转向环6的内孔与转向套7的球形外壁配合，转向套内孔设有光源头2，光源头内孔与插入的光纤接头9配合，光纤接头9左端连接光纤10。光源头2的顶端外壁螺纹联接有光源聚光筒4。以上所述的仅是本技术的优选实施方式。应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以作出若干变型和改进，这些也应视为属于本技术的保护范围。·权利要求1.一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，其特征在于包括ー个弧形的光源支架(I)，其两端分别设有一个通孔，其上部通孔设有光源顶环(3)，光源顶环(3)中设有与显微摄像机(8)连接的螺纹孔，光源支架(I)的下部通孔内设有转向环(6)，转向环(6)内孔设有转向套(7)，转向环(6)的内孔与转向套(7)的球形外壁配合，转向套内孔设有光源头(2)，光源头内孔中插入光纤接头(9)，光纤接头(9)连接光纤(10)，光源头(2)的一端端联接有光源聚光筒(4)。2.根据权利要求I所述的三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，其特征在于光源支架(I)上设有顶丝(5)与转向环(6)配合定位。专利摘要本技术涉及一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，包括一个弧形的光源支架(1)，其上部通孔设有的光源顶环(3)与显微摄像机(8)连接，光源支架下部通孔内设有转向环(6)，其内孔设有转向套(7)，转向套内孔设有光源头(2)，光源头内孔中插入光纤接头(9)，光纤接头(9)连接光纤(10)，光源头(2)的一端端联接有光源聚光筒(4)。采用本技术的优点，使用光源支架、转向套、聚光筒对光源的照射位置、旋转角度和聚光度进行调整，可实现对测量物体取景成像工作的需要，其结构合理、性能稳定、操作简便，可用于微电子微机械精密件质量检测，从而提高质量检验技术水平和工作效率。文档编号G01B11/24GK202599361SQ20122024616公开日2012年12月12日 申请日期2012年5月29日 优先权日2012年5月29日专利技术者严继华, 路振涛, 孟凡忠, 其他专利技术人请求不公开姓名 申请人:安徽国盾三维高科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种三维形貌痕迹比对测量仪的摄像机照明装置，其特征在于：包括：一个弧形的光源支架（1），其两端分别设有一个通孔，其上部通孔设有光源顶环（3），光源顶环（3）中设有与显微摄像机（8）连接的螺纹孔，光源支架（1）的下部通孔内设有转向环（6），转向环（6）内孔设有转向套（7），转向环（6）的内孔与转向套（7）的球形外壁配合，转向套内孔设有光源头（2），光源头内孔中插入光纤接头（9），光纤接头（9）连接光纤（10），光源头（2）的一端端联接有光源聚光筒（4）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：严继华，路振涛，孟凡忠，其他发明人请求不公开姓名，
申请(专利权)人：安徽国盾三维高科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：