用于测量有源天线装置的辐射方向图的设备制造方法及图纸

一种用于测量有源天线装置的辐射方向图的设备被提供，其中有源天线装置包括具有彼此通信的专用天线元件的一个或多个无线电。该设备具有在有源天线装置外部的公用模块，以及具有也在有源天线装置外部的并且被耦合到公用模块的校准无线电。公用模块包括发射/接收单元和用于把公用模块与有源天线装置、与校准无线电以及与网络节点接口连接的接口连接装置。公用模块进一步包括用于测量从有源天线装置接收到的信号的测量设备。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般地涉及一种用于测量有源天线装置的辐射方向图(radiationpattern)的设备。更特别地，本专利技术涉及通过使用近场测量方法对有源天线装置的辐射方向图的测量。
技术介绍
在无线通信系统中，当被关联到公用信号的数个经协调的无线电正一起工作时，其中所述经协调的无线电中的每个都被直接连接到每个无线电仅仅一些天线元件，更大的天线阵列被形成。存在该天线阵列应该具有的最优辐射方向图和灵敏度。当天线元件没有被连接到无线电时，对于一个无线电特定的一些天线元件的辐射方向图可以容易地被分开测量。任何近场天线测量系统或远场天线测量系统都可以被使用。然而，当要求在用户级或小区级优化辐射方向图时，这是不够的，因为通过有源天线的 最重要的性能改进来自由无线电和各个单独的天线元件一起在他们正形成针对大的阵列的共同的照射函数时所形成的整个相控阵。整个有源天线阵列的性能和功能性必须在开发中以及也在生产中作为单个实体被测量和被验证。针对天线辐射方向图测量存在两个主要的公知类别近场测量和远场测量。近场测量是基于如下事实当天线的照射函数在天线周围的任何闭曲面处被测量时，任何天线的辐射方向图都可以被计算本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.04.22 EP PCT/EP2010/0553271.一种用于测量有源天线装置的辐射方向图的设备，所述有源天线装置包括具有彼此通信的专用天线元件的一个或多个无线电，所述设备包括 在有源天线装置外部的公用模块；以及 在有源天线装置外部的并且被耦合到公用模块的校准无线电， 其中，所述公用模块包括 发射/接收单元， 用于把公用模块与有源天线装置、与校准无线电以及与网络节点接口连接的接口连接装置，以及 用于测量从有源天线装置接收到的信号的测量设备。2.根据权利要求I所述的设备，其中，测量设备包括用于生成用于通过校准无线电的发射的测试信号的信号发生器。3.根据权利要求I或2所述的设备，其中，测量设备包括用于比较由有源天线装置所发射的并且由校准无线电所接收到的两个测试信号的比较器。4.根据权利要求3所述的设备，其中，比较器进一步被适配来比较从至少两个专用的天线元件接收到的信号的相对相位和相对功率。5.根据权利要求I至4中的任意权利要求所述的设备，其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：JT帕洛南，
申请(专利权)人：诺基亚西门子通信公司，
类型：
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