本发明专利技术涉及一种采用频率差分技术消减天线测试环境中多径干扰的方法，技术特征在于：在步进频率测试的基础上，频率差分法考察频域响应中各频点的幅度和相位，对于相邻频率的两组测试数据，由于频率间隔很小（如2MHz），可近似认为两组数据幅度是相等的，而相位会有较大差别。通过分析测试系统相位传递关系，考察相邻频点直达波和多径信号相位改变量的不同。采用本发明专利技术的频率差分技术，可将直达信号从频域响应中分离出来，达到去除多径干扰的目的。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于天线测试领域，具体涉及ー种利用频率差分技术在天线测试环境中消除多径干扰信号，提高测量天线參数(包括方向图和增益、以及其它參数)精度的使用方法。
技术介绍
衡量ー付天线的实际辐射性能，需通过精确的测量。测试环境中(微波暗室或开阔场)存在多径干扰，在常规的频域测量中，主瓣波束在指向侧壁时形成的强反射会抬高副瓣电平；当吸波材料的性能不够理想时，来自侧壁、后墙的多径干扰信号会严重影响测试精度。尤其在低频段，这种现象更加明显。 微波暗室内，随着测试频段的降低，侧壁的多径反射增强，导致天线方向图的测试精度难以达到±ldB ；IOOMHz以下频段恶化到±2dB以上。在外场测试吋，由于外部环境的不可控，多径干扰更加严重。对于高増益、低副瓣天线情况更加严重。
技术实现思路
基于以上情况，本专利技术提出ー种利用频率差分技术，消除多径干扰对测试结果的影响。在步进频率测试的基础上，频率差分法考察频域响应中各频点的幅度和相位，对于相邻频率的两组测试数据，由于频率间隔很小(如2MHz)，可近似认为两组数据幅度是相等的，而相位会有较大差别。通过分析测试系统相位传递关系，考察相邻频点直达波和多径信号相位改变量的不同。采用本专利技术的频率差分技术，可将直达信号从频域响应中分离出来，达到去除多径干扰的目的。技术方案步骤I搭建天线测试系统发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线；步骤2 :根据被测天线工作频段，设置矢量网络分析仪的测试起止频率和频率间隔A f, A f应小于10MHz，建议置于1MHz。在测试距离为d时，天线测试系统的频域响应为S' 21;步骤3 :建立直达波信号与多径干扰波的干渉模型 =1( ),!^ +|(521),,|e-*，其中，I(S21)dI为直达波信号的幅度，％为直达波信号的相位，I(S21)J为多径干扰信号的幅度，ル为多径干扰信号的相位；由信号在天线测试系统中的传递关系可以得到レ t, , |2 _ G,(i r；(0,(p)c2 hv x |2 _|H GX;rl' W + a,(p、c:I い 2]ん I -f A，丨(らI 人 I —I I r / ハ r / ハハ 、2 パ Li(f)L2(f){47rd) //-式中Gt:发射天线的增益；Gr:接收天线的增益；6(武供):接收天线的归ー化电场方向图；Li(f)、L2(f):分别为天线测试系统中连接辅助天线、被测天线电缆的损耗；c :光速；r:多径的距离；d :辅助天线与被测天线的距离；a :多径干扰和直达波的夹角。步骤4:相邻两个频点对应的自由方向衰减和电缆损耗相差很小，令I (S' 21(f))dl ^ I (S' 21 (f+ A f))d| = a, I (S' 21(f))r| ^ I (S' 21(f+A f)r| = b,则相邻两个频点的频域响应可分别表示为权利要求1.一种基于频率差分法的消除微波暗室内多径干扰的测试方法，其特征在于步骤如下 步骤I搭建天线测试系统发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线； 步骤2 :根据被测天线工作频段，设置矢量网络分析仪的测试起止频率和频率间隔A f, A f应小于10MHz，建议置于1MHz。在测试距离为d时，天线测试系统的频域响应为S' 21; 步骤3 :建立直达波信号与多径干扰波的干涉模型-,S11 =|(S21)rf|e-^ +\{S2l\\e^，其中，I(S21)dI为直达波信号的幅度，％为直达波信号的相位，I(S21)J为多径干扰信号的幅度，A为多径干扰信号的相位；由信号在天线测试系统中的传递关系可以得到全文摘要本专利技术涉及一种，技术特征在于在步进频率测试的基础上，频率差分法考察频域响应中各频点的幅度和相位，对于相邻频率的两组测试数据，由于频率间隔很小(如2MHz)，可近似认为两组数据幅度是相等的，而相位会有较大差别。通过分析测试系统相位传递关系，考察相邻频点直达波和多径信号相位改变量的不同。采用本专利技术的频率差分技术，可将直达信号从频域响应中分离出来，达到去除多径干扰的目的。文档编号G01R29/10GK102768309SQ201210271819公开日2012年11月7日 申请日期2012年8月2日 优先权日2012年8月2日专利技术者宋鹏, 张曼, 张琦, 张颖军, 张麟兮, 郭静远, 魏世京 申请人:西北工业大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于频率差分法的消除微波暗室内多径干扰的测试方法，其特征在于步骤如下：步骤1搭建天线测试系统：发射端的辅助天线与测试端的被测天线位于同一高度，且位于同一轴线；步骤2：根据被测天线工作频段，设置矢量网络分析仪的测试起止频率和频率间隔△f，△f应小于10MHz，建议置于1MHz。在测试距离为d时，天线测试系统的频域响应为S′21；步骤3：建立直达波信号与多径干扰波的干涉模型：其中，|(S21)d|为直达波信号的幅度，为直达波信号的相位，|(S21)r|为多径干扰信号的幅度，为多径干扰信号的相位；由信号在天线测试系统中的传递关系可以得到：式中:Gt:发射天线的增益；Gr：接收天线的增益；接收天线的归一化电场方向图；L1(f)、L2(f)：分别为天线测试系统中连接辅助天线、被测天线电缆的损耗；c：光速；r：多径的距离；d：辅助天线与被测天线的距离；a：多径干扰和直达波的夹角。步骤4：令|(S′21(f))d|≈|(S′21(f+△f))d|＝a，|(S′21(f))r|≈|(S′21(f+△f)r|＝b，则相邻两个频点的频域响应分别表示为：式中：l1，l2为分别连接辅助天线，被测天线的电缆长，εr为电缆l1、l2的介电常数；a,b为常量。S′21(f+△f)，S′21(f)由步骤（2）测量获得；△f已知，ld，d可测；由公式（1）联立求解，可分离出频率为f时的多径信号为：直达信号为：步骤5：计算式（2）、（3）中多径干扰信号的波程r，首先假定其距离为式中：w为反射端的辅助天线与测试端的被测天线轴线与暗室侧壁的距离，得到：式中：为多径为r0时第i个频点由（3）式求得的相移值；步骤6：对求平均得到多径的真值把多径距离代入式（4）求得直达信号的频域相应值。FDA00001965789400011.jpg,FDA00001965789400012.jpg,FDA00001965789400013.jpg,FDA00001965789400014.jpg,FDA00001965789400015.jpg,FDA00001965789400016.jpg,FDA00001965789400021.jpg,FDA00001965789400022.jpg,FDA00001965789400023.jpg,FDA00001965789400024.jpg,FDA00001965789400025.jpg,FDA00001965789400026.jpg,FDA00001965789400027.jpg,FDA00001965789400028.jpg,FDA00001965789400029.jpg,FDA000019657894000210.jpg...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张麟兮，郭静远，张曼，张颖军，宋鹏，魏世京，张琦，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：
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