光谱测量装置与程序制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光谱测量装置，包括：数据存储器，用于存储第一和第二荧光光谱，第一荧光光谱是通过使用不包含目标组分的溶剂作为上述试样而得到的，第二荧光光谱是通过使用包含目标组分的溶剂作为上述试样而得到的，第一和第二荧光光谱中的每一个都是通过在预定的波长范围内改变激发波长得到的；最佳波长确定器，用于根据第一和第二荧光光谱计算目标组分在各波长上的荧光强度的值，根据第一荧光光谱计算各波长上因溶剂引起的噪声量的估计值，以及根据目标组分的荧光强度的值和噪声量的估计值确定在各波长上的灵敏度指数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光谱測量装置与这种装置用的程序。
技术介绍
光谱测量装置，例如荧光测量装置或吸光度确定装置，是ー种通过光谱方法检测或确定试样中目标组分的系统。荧光测量装置通常具有激发光谱系统，用来从光源产生的光中分离预定波长的光，并用该分离的光作为激发光辐射试样；荧光光谱系统，用来将在利用激发光的辐射时从试样发出的光分离出预定波长的光；及光电探测器，用来检测由荧光光谱系统所分离的光并产生对应于该检测光的量的信号(例如，參见专利文献I)。 使物质从基态到激发态所必需的激发光的波长和当从激发态返回到基态时该物质发出的荧光的波长取决于该物质的种类。因此，在使用荧光测量装置的測量中，必须为待测的组分(即目标组分)适当设置測量中所用的激发波长和用光电检测器所检测的荧光波长。在使用常规的荧光測量装置的測量中，检测目标组分的最佳激发波长和荧光波长预先确定如下(I)在试样盒中只有溶济的情况下，通过在将激发波长维持在固定值的同时改变突光波长的方式，获得显不各突光波长处的突光强度的光谱。(下文中称该光谱为“突光侧光谱”。)(2)在试样盒中有目标组分和溶剂的情况下，类似地获得荧光侧光谱。(3)通过从步骤(2)中获得的光谱中减去步骤(I)中获得的光谱得到目标组分的荧光测光谱，并且选择在获得的光谱中荧光强度为最大的波长作为最佳荧光波长。(4)在试样盒中只有溶济的情况下，通过在将激发波长维持在固定值的同时改变荧光波长的方式，获得显示各激发波长处的荧光强度的荧光光谱。(下文中称该光谱为“激发侧光谱”。)(5)在试样盒中有目标组分和溶剂的情况下，类似地获得激发侧光谱。(6)通过从步骤(5)中获得的光谱中减去步骤⑷中获得的光谱得到目标组分的激发测光谱，并且选择在获得的光谱中荧光强度为最大的波长作为最佳激发波长。应当注意，可以按相反次序进行荧光测光谱和激发测光谱的测量。通过前面所述的方法，可以选择在获得最大荧光强度处的激发波长和荧光波长分别作为最佳激发波长和最佳荧光波长。另ー方面，吸光度确定装置通常具有辐射光学系统，用于从由光源生成的光中分离预定波长的光并且利用该分离的光作为辐射光照照试样；及光电检测器，用来检测经过试样的光(透射光)并产生对应于被检测光的量的信号。被物质所吸收的光的波长取决于物质的种类。因此，在使用吸光度确定装置的测量中，必须为要被检测的组分(即目标组分)适当设置測量中所用的辐射光的波长。所以，在使用传统吸光度确定装置的測量中，必须參照合适的文献等预先获得有关目标组分的吸收波长的信息，或必须按如下确定用于目标组分的测量的最佳波长(I)在试样盒中只有溶济的情况下，通过改变辐射光的波长，获得吸收光谱。(2)在试样盒中有目标组分和溶剂的情况下，类似地获得吸收光谱。(3)通过从步骤(2)中获得的光谱中减去步骤⑴中获得的光谱获得目标组分的吸收光谱，并选择在吸收光谱中吸光度为最大的波长作为最佳波长。
技术介绍
文献专利文献专利文献I JP-A2OOl-83O9
技术实现思路
专利技术所要解决的问题然而，当任何ー种上述决定最佳波长的方法被应用于用作液相色谱仪的检测器的荧光测量装置或吸光度确定装置时，确定的波长可能不同于在获得液相色谱分析的最大信号噪声比(S/N)(和最小检测限度)处的波长。这是因为上述确定最佳波长的方法没有考虑液相色谱仪系统中基线的改变，即在处理供给流动相的过程中噪声的大小的改变。因此，本专利技术所要解决的问题在于提供一种能够确定在S/N比为最大和检测限度为最小处的波长作为最佳波长的光谱测量装置。解决问题的方式根据为了解决上述问题的本专利技术的一种光谱測量装置为用来将辐射光投射进试样内或投射到试样上并测量由于辐射光和试样之间的相互作用而从试样得到的光的光谱測量装置，包括a)数据存储器，用于存储第一測量数据和第二測量数据，所述第一測量数据是通过使用不包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第二測量数据是通过使用包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第一測量数据和所述第二測量数据中的每ー个测量数据通过在预定的波长范围内改变辐射光的波长或待测量的光的波长而得到，或者通过使从所述试样得到的光色散，同时在预定的范围内多个波长上检测被色散的光而得到；和b)灵敏度指数估算器，用来根据所述第一測量数据和所述第二測量数据计算表示所述目标组分和所述辐射光之间在各波长上相互作用的程度的值，用来根据所述第一測量数据计算在各波长上因所述溶剂引起的噪声量的估计值，以及用来根据表示所述目标组分和所述辐射光之间相互作用的程度的值与所述噪声量的估计值两者之间的比率，计算在各波长上灵敏度指数的估计值。“表示目标组分和辐射光之间的互相作用的程度的值与噪声量的估计值两者之间的比率”，可以为“表示目标组分和辐射光之间互相作用的程度的值”对“由于溶剂引起的噪声量”的比，或者为“由于溶剂引起的噪声量”对“表示目标组分和辐射光之间互相作用的程度的值”的比。各波长处的“灵敏度指数”是表示在相关波长处测量的灵敏度级别的指数。例如，用“由于溶剂引起的噪声量的估计值”去除“表示目标组分和辐射光之间互相作用的程度的值”得到的S/N比的估计值可以被用作灵敏度指数。在这种情况下，灵敏度指数的值越大，测量的灵敏度级别就越高。灵敏度指数的另ー个实例是用除以“表示目标组分和辐射光之间互相作用的程度的值”的“由于溶剂引起的噪声量的估计值”去乘目标组分的浓度所得到的值。该得到的值对应于浓度的检测限度。在这种情况下，灵敏度指数的值越小，測量的灵敏度级别越高。在根据本专利技术的装置的第一种模式中所述相互作用是所述试样的荧光发射，所述光谱測量装置是包括用预定波长的激发光来辐照所述试样的激发光学系统和检测从被激发光辐照的所述试样发射的荧光的检测光学系统的荧光測量装置；数据存储器用来存储第一測量数据和第二測量数据，所述第一測量数据是通过使用不包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第二測量数据是通过使用包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第一測量数据和所述第二測量数据中的每ー个测量数据都是通过在预定的波长范围内改变所述激发光的波长而得到的；及灵敏度指数估算器被设计用来根据所述第一測量数据和所述第二測量数据计算在各激发波长上所述目标组分的荧光强度的值，根据所述第一測量数据计算在各激发波长·上因所述溶剂引起的所述噪声量的估计值，以及根据所述目标组分的荧光强度的值和所述噪声量的估计值之间的比率，计算在各激发波长上所述灵敏度指数的估计值。在根据本专利技术的装置的第二种模式中所述相互作用是所述试样的荧光发射，所述光谱測量装置是包括用预定波长的激发光来辐照所述试样的激发光学系统和检测从被所述激发光辐照的试样发射的荧光的检测光学系统的荧光測量装置；数据存储器用来存储第一測量数据和第二測量数据，所述第一測量数据是通过使用不包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第二測量数据是通过使用包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第一測量数据和第二測量数据中的每ー个測量数据都是通过在预定的波长范围内改变由所述检测光学系统所检测的荧光的波长而得到，或者通过使从所述试样发射的荧光色散，同时在预定的范围内多个波长上检测被色散的荧光而得到的；及灵敏度指数估算器被设计用来根据所述第一測量数据和所述第二測量数据计算本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱测量装置，用来将辐射光投射进试样内或投射到试样上并测量从试样上由于所述辐射光和所述试样之间相互作用而得到的光，其特征在于，包括：a)数据存储器，用于存储第一测量数据和第二测量数据，所述第一测量数据是通过使用不包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第二测量数据是通过使用包含目标组分的溶剂作为所述试样而得到的，所述第一测量数据和所述第二测量数据中的每一个测量数据通过在预定的波长范围内改变辐射光的波长或待测量的光的波长而得到，或者通过使从所述试样得到的光色散，同时在预定的范围内多个波长上检测被色散的光而得到；和b)灵敏度指数估算器，用来根据所述第一测量数据和所述第二测量数据计算表示所述目标组分和所述辐射光之间在各波长上相互作用的程度的值，用来根据所述第一测量数据计算在各波长上因所述溶剂引起的噪声量的估计值，以及用来根据表示所述目标组分和所述辐射光之间相互作用的程度的值与所述噪声量的估计值两者之间的比率，计算在各波长上灵敏度指数的估计值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：小田龙太郎，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：